線束綜合測(cè)試儀的特點(diǎn):
1.精密四線試量測(cè)(具體溫度補(bǔ)償防呆四線夾具接觸查證)
2.導(dǎo)通電阻(外部溫度補(bǔ)償)高壓(AC DC IR) 元件(電感電容)正負(fù)脈沖(電磁鎖)全點(diǎn)位信號(hào)控制(PDU控制信號(hào))一站式測(cè)試
3.多點(diǎn)位選擇(32P、64P、96P、128P、160P、192P、224P、 256P、---1024P---)后期可以選擇增加板卡模塊
4.導(dǎo)通點(diǎn)位自動(dòng)學(xué)習(xí)功能,高壓點(diǎn)位自動(dòng)抓取功能,設(shè)置編輯簡單易懂
5.系統(tǒng)提供打印條碼掃描條碼列印等功能。
6.設(shè)備自檢尋點(diǎn)功能點(diǎn)位自定義 I/O接口
7.治具與儀器之間連接用快速接頭連接,更換治具方便
線束綜合測(cè)試儀的綜合參數(shù):
高壓擊穿測(cè)試(絕緣強(qiáng)度測(cè)試) DC | AC | |
電壓類型 | 50V-6kV DC(選購8kV)步進(jìn)10V | 50V-5KV 步進(jìn)10V 50HZ/60HZ |
門限/短路(泄露)電流 | 0.1-5mA,步距0.1mA | max 10mA |
上升時(shí)間 | 0s-65s,步進(jìn)0.1s | 0s-65s,步進(jìn)0.1s |
保持時(shí)間 | 0s-65s,步進(jìn)0.1s | 0s-65s,步進(jìn)0.1s |
下降時(shí)間 | 0S | 0s-65s,步進(jìn)0.2s |
-小下沖電流限制值Limit under-shooting Imin 可編程范圍 |
高壓絕緣測(cè)試IR | |
測(cè)試電壓 | DC 40-1000V |
步進(jìn)電壓 | 10V |
測(cè)試電流 | max.2mA |
絕緣測(cè)試范圍 | 500kΩ-500MΩ(±2%) |
500kΩ-2000MΩ(±5%) | |
編程步進(jìn)500kΩ | |
快速識(shí)別電壓擊穿 | |
大電流導(dǎo)通測(cè)試(選購) | |
測(cè)試電壓 | DC max.22V |
測(cè)試電流 | 50mA-2A |
可編程步進(jìn)10mA | |
導(dǎo)通測(cè)試范 | 0.5Ω-10Ω(±2%) |
10Ω-1kΩ(±5%) | |
可編程步進(jìn)0.001Ω | |
測(cè)試電流 | 保持時(shí)間:0-60s,可編程步進(jìn)100ms |
元件測(cè)試(選配) | |
電感 | 10nH-20KH(±2%) |
電容 | 10nF-20mF(±5%) |
二極管 | 正向電壓: <1.0V 反向電壓: max.40V |
穩(wěn)壓管 | 正向電壓: <3.0V 穩(wěn)壓電壓: max.35V(±10%) |
LED | 正向電壓: <4.0V 反向電壓: max.40V |
高壓線束綜合測(cè)試儀備注:以上單個(gè)元件的測(cè)試可以單獨(dú)與測(cè)試點(diǎn)相連 |