絕緣電阻測(cè)試儀工廠*電機(jī)株式會(huì)社（*）自1935年創(chuàng)立以來(lái)，經(jīng)過(guò)不斷的發(fā)展壯大，現(xiàn)已確立了在*的測(cè)試測(cè)量工藝技術(shù)研發(fā)及制造領(lǐng)域的性重要地位，并于2003年12月在東京證券部上市。主要從事電氣測(cè)量?jī)x的研究開(kāi)發(fā)，制造，銷售以及標(biāo)準(zhǔn)，售后服務(wù)等。近年進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)了技術(shù)，制造，銷售一體化體系，并開(kāi)發(fā)了光，通信，環(huán)境測(cè)量等新領(lǐng)域。*的目標(biāo)是，在保護(hù)自然環(huán)境的前提下，促進(jìn)社會(huì)的發(fā)展，成為值得信賴的企業(yè)。

絕緣電阻測(cè)試儀工廠實(shí)現(xiàn)了高速絕緣電阻檢查，快達(dá)50ms的高速判斷，快速釋放殘留電壓，任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值25～1000V（1V分辨率）設(shè)置，接觸檢查功能可防止由于接觸不良造成的誤判斷，短路檢查功能可防止不合格品流入市場(chǎng)。產(chǎn)品滿足了生產(chǎn)線上快節(jié)奏的要求。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

■ 快達(dá)50ms的高速判斷

以業(yè)界快達(dá)50ms的速度檢查完畢。與以往機(jī)型相比速度提高了700ms。

★ 放電時(shí)間因被測(cè)物的靜電電容而異。

★ 此為檢查時(shí)間設(shè)置45ms時(shí)的波形。

★ 此波形為9MΩ、10pF的被測(cè)物的檢查結(jié)果。

■ 高速自動(dòng)放電功能

檢查后的放電時(shí)間與以往機(jī)型相比大幅縮短。

結(jié)果，若按下述條件比較同樣的被測(cè)物的話， 則可大致算出有990ms的工時(shí)的改善。

★ 放電時(shí)間因被測(cè)物的靜電電容而異。

★ 此波形為9MΩ、10pF的被測(cè)物的檢查結(jié)果。

■ 接觸檢查功能

防止接觸不良引起的誤判定

使用接觸檢查功能，在檢查前確認(rèn)是否與檢查對(duì)象*接觸。

防止未*接觸就進(jìn)行絕緣電阻檢查，會(huì)發(fā)生錯(cuò)誤判定的情況。

有通過(guò)4端子接觸檢查和通過(guò)比較器功能這2種方法。

★ 通過(guò)4端子接觸檢查

確認(rèn)HIGH和LOW各個(gè)用于接觸檢查和OUTPUT的端口間的導(dǎo)通。

★ 通過(guò)比較器功能的接觸檢查功能

在與往常一樣連接后，超過(guò)所設(shè)比較器的上限值時(shí)，可以識(shí)別為Upper FAIL接觸不良。



■ 自由設(shè)置測(cè)試電壓

25V～1000V(1V分辨率)設(shè)置

在檢查鋰電池等電池的絕緣電阻時(shí)，具體的測(cè)試電壓并不是固定的，而是根據(jù)生產(chǎn)廠家而異。

另外，也可以想到繼電器或連接器等電子元器件會(huì)根據(jù)以后的標(biāo)準(zhǔn)修改而發(fā)生變化。

ST5520可自由設(shè)置測(cè)試電壓值。

可在觀看面板的同時(shí)利用按鍵操作變更測(cè)試電壓值。

以往機(jī)型是25V/50V/100V/250V/500V/1000V這種切換式。

■ 短路檢查功能

防止有故障隱患的產(chǎn)品流入市場(chǎng)

對(duì)檢查對(duì)象施加低壓(DC2～4V)，在進(jìn)行絕緣電阻檢查前先確認(rèn)微短路。

錯(cuò)誤地進(jìn)行絕緣測(cè)試則會(huì)殘留突起物，在流入市場(chǎng)后可能會(huì)因此造成故障。

■ 比較器功能

可設(shè)置上下限值

可從下限值判定/上限值判定/上下限值判定這3種之中選擇。

根據(jù)所設(shè)的響應(yīng)時(shí)間可讓比較器在一定時(shí)間延遲之后再工作。

■ 帶開(kāi)關(guān)的探頭

在手邊安全并簡(jiǎn)單的操作

通過(guò)使用選件的帶開(kāi)關(guān)的探頭9299，可在手持探頭的狀態(tài)下對(duì)ST5520進(jìn)行操作。

■ 面板保存&讀取功能

測(cè)量條件的保存與讀取

測(cè)量條件多可保存10組，即使切斷電源仍可保持。

保存下來(lái)的條件可通過(guò)按鍵操作、 RS-232C、EXT.I/O讀入。

產(chǎn)品背部外部接口

絕緣電阻測(cè)試儀ST5520產(chǎn)品參數(shù)：