WH82鐵鋁基兩用涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品介紹

WH82鐵鋁基兩用涂層測(cè)厚儀，鐵基和鋁基兩用快速全自動(dòng)轉(zhuǎn)換（無須手動(dòng)操作轉(zhuǎn)換）。除單點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)和恢復(fù)出廠設(shè)置功能外，還增加了自助標(biāo)定修復(fù)功能；當(dāng)儀器測(cè)頭因*磨損導(dǎo)致測(cè)試值誤差超出正常范圍時(shí)，用戶可直接向儀器重新輸入數(shù)據(jù)，修復(fù)儀器測(cè)頭系統(tǒng)，恢復(fù)測(cè)量準(zhǔn)確度，節(jié)約返廠時(shí)間及運(yùn)輸成本。

Fe質(zhì)探針可檢測(cè)所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷等。
NFe質(zhì)探針檢測(cè)所有絕緣涂層厚度，例如涂在諸如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上的漆、塑料、瓷等。

WH82鐵鋁基兩用涂層測(cè)厚儀測(cè)量原理

采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、 油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、 鋁、 鋅、 錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

a) 磁性法(F 型測(cè)量頭)

當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。

b) 渦流法(N 型測(cè)量頭)

利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)量頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

WH82鐵鋁基兩用涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)