X射線管位于分析樣品上方，減少了真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn)，并且無(wú)需在進(jìn)行粉末樣品分析時(shí)使用粘合劑，使樣品制備更快捷簡(jiǎn)便。
可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率，使粉末和金屬樣品的樣品處理量達(dá)到。
特點(diǎn)
實(shí)現(xiàn)粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析
高精度定位樣品臺(tái)滿(mǎn)足合金分析高精度要求
特殊光學(xué)系統(tǒng)減少樣品表面不平而引起的誤差
樣品室可簡(jiǎn)單移出方便清潔
操作界面簡(jiǎn)潔、自動(dòng)化程度高
ZSX Primus III +
Rigaku ZSX Primus III +以很少的標(biāo)準(zhǔn)在各種樣品類(lèi)型中快速定量測(cè)定從氧氣（O）到鈾（U）的主要和次要原子元素。
高于光學(xué)元件的管道，可靠性更高
ZSX Primus III +具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù)，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問(wèn)題并延長(zhǎng)了使用時(shí)間。
高精度樣品定位
樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對(duì)于要求高精度的應(yīng)用很重要，例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析，旨在大限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差，如熔融珠和壓制顆粒
使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)
EZ掃描允許用戶(hù)在未事先設(shè)置的情況下分析未知樣品。節(jié)省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱(chēng)。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，它可以提供準(zhǔn)確，速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正所有的矩陣效應(yīng)，包括線重疊。SQX還可以校正光電子（光和超輕元素），不同氣氛，雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和完美的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。
特征
元素從O到U的分析
管道上方的光學(xué)器件使污染問(wèn)題小化
占地面積小，使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限
高精度樣品定位
特殊光學(xué)元件可減少曲面樣品表面造成的誤差
統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制軟件工具（SPC）
吞吐量可以?xún)?yōu)化疏散和真空泄漏率
