美国LUMETRICS波前传感器CLAS-2D

天津瑞利光电科技有限公司优势经销美国LUMETRICS波前传感器CLAS-2D
品牌介绍：
LUMETRICS总部位于纽约，自2003年以来，一直在为越来越多的客户开发和制造高精度的厚度测量和计量系统，包括医疗，制药，食品包装等行业。我们的原始产品线OptiGauge是通过获得Eastman Kodak的薄膜测量技术许可而推出的。从那以后，我们扩展了OptiGauge系列并开发了其他产品线，以满足更加多样化的行业需求。

产品范围：
美国LUMETRICS波前传感器、精密像差仪

美国LUMETRICS波前传感器CLAS-2D

相关产品介绍：
OPTIGAUGE 2000仪器基于时域低相干干涉测量法。这项技术可以对任何对光测量透明或部分透明的材料进行厚度测量。使用中心波长约为2微米的红外光。设计用于测量特殊和稀有材料。常规的玻璃和塑料材料也可以测量。我们的技术可实现快速的实时测量，可用于在线过程控制以及离线质量控制。
主要特点：
-测量范围：100ΜM-16MM
-精度±1.0ΜM
-单层和多层测量
-连续内部校准
-NIST可追溯性
-台式或机架安装

CLAS-2D波前传感器将干涉仪，光束轮廓仪和光束质量仪的功能整合在一台仪器中，以提供准确的波前测量和激光轮廓分析。
该系统软件是业内灵活软件，可以分析光学像差，包括像散，球差，聚焦误差/准直，倾斜等。此外，CLAS-2D还测量M2光束质量，MTF，近场和远场光束发散度以及其他光束参数。
主要特点：
-激光束诊断
-光学测试
-对准
-角度测量
-准直
-表面测量

CRYSTALWAVE人工晶状体精密像差仪是一种高度灵敏的光学仪器，专门设计用于使用10,000个小透镜的栅格来测量人工晶状体。它使您可以通过使用或不使用可选模型眼的WAVEFRONT测量来计算MTF。CRYSTALWAVE 765还包括可用于视觉检查的摄像机。与我们的CLAS-2D服务器软件兼容，您还可以使用LABVIEW，VISUAL BASIC或其他语言编写CRYSTALWAVE 765的应用程序，以直接控制生产线环境中的仪器。
主要特点：
-测量范围包括球面度数，圆柱度，轴，彗差，三叶形和其他高阶像差

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