Trimos TR-Scan系列非接觸表面微觀形貌(粗糙度)測量儀,系統(tǒng)采用TRIMOS技術(shù)數(shù)字全息三維顯微測量技術(shù)(DHM),廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查。與傳統(tǒng)非接觸測量技術(shù)相比,測量速度快,對(duì)震動(dòng)不敏感,真正的實(shí)現(xiàn)三維形貌納米級(jí)測量。模塊化的設(shè)計(jì)理念,可配置共焦顯微系統(tǒng), 探針測量系統(tǒng),傳感器直接更換,方便快捷,*的滿足了不同的應(yīng)用范圍。即可用于計(jì)量單位和材料科學(xué)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室,也廣泛應(yīng)用在工業(yè)制造領(lǐng)域:汽車、航天、航空、表面涂層、醫(yī)療產(chǎn)品、微型電機(jī)系統(tǒng)、半導(dǎo)體等行業(yè)。
主要特點(diǎn):
◆ 非接觸式測量原理,無損化檢測粗糙度,微觀形貌
◆ *的數(shù)字全息三維顯微技術(shù),真正實(shí)現(xiàn)3D微觀形貌測量
◆ 創(chuàng)新的成像原理,從原理上保證了對(duì)外界振動(dòng)不敏感,Z軸分辨率高
◆ 激光找正工件并自動(dòng)定位,測量速度快
◆ 模塊化的設(shè)計(jì)概念,多種光學(xué)光路原理,直接更換傳感器,不需要調(diào)整,方便快捷
◆ 可非標(biāo)定制相應(yīng)的測量頭,滿足不同客戶的特殊工件測量要求
◆ 即可選用數(shù)字全息技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精密表面測量,也可選用色譜共焦技術(shù)實(shí)現(xiàn)微觀輪廓測量或選用接觸式探針實(shí) 現(xiàn)內(nèi)壁粗糙度測量
◆ 慣用了Trimos“智能用戶界面”的理念,測量過程全 自動(dòng),操作簡單
◆ 采用專業(yè)的3D形貌分析軟件,功能強(qiáng)大,即可實(shí)現(xiàn)2D輪廓測量,也可進(jìn)行3D形貌分析
◆ 可進(jìn)行編程批量檢測并自動(dòng)生成分析報(bào)告
◆ *兼容2D標(biāo)準(zhǔn),并已內(nèi)置即將制定的3D標(biāo)準(zhǔn)
軟件特點(diǎn):
TRIMOS NanoWare軟件,擁有的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)程序來實(shí)時(shí)更新標(biāo)準(zhǔn)測量符合以下標(biāo)準(zhǔn):ISO (4287、4288、11562、1101、12085、13563等),法國標(biāo)準(zhǔn)NF,制造標(biāo)準(zhǔn)CNOMO,ASME (B46.1) 和DIN標(biāo)準(zhǔn);三維表面特征數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 25178系列同樣有效。
TRIMOS® NanoWare LT特點(diǎn):
用于二維輪廓粗糙度測量分析的基本模塊。操作簡便,包含用于表面檢查,分析形貌,粗糙度和波紋度測量的重要功能。
◆ 常用參數(shù)要求數(shù)據(jù)Ra、Rq、Rt、線性材料曲率
◆ 過濾方式、水平、放大
◆ 所有測量可復(fù)現(xiàn)三維形貌
TRIMOS® NanoWare STT:
◆ 3軸測量基本模塊. 包含分析輪廓的所有功能及 符合ISO 25178表面分析
◆ 3D基本參數(shù)(Sa, Sq, St, Smr, ...)
◆ 表面圖形仿真
◆ 距離, 高度及角度測量
◆ 成型, 拉平, 視圖等濾波器
◆ 終結(jié)果管理
◆ 測量點(diǎn)管理/再采集
◆ 輪廓提取, 體積測量
TRIMOS® NanoWare PRO:
2D及3D表面特征評(píng)估完整版本。此模塊綜合了表面測量領(lǐng)域15年以來的經(jīng)驗(yàn)。
◆ 市場上性能的軟件
◆ 表面圖層研究
◆ 3D形貌鑒定
◆ 表面及輪廓統(tǒng)計(jì)分析及研究
可選測頭:
應(yīng)用示例: