CMS2
COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對單種鍍層進行標準的STEP測試,以檢測電位差(如多層鎳涂層的質(zhì)量控制)。
特性:
· 使用準確性高的電解退鍍技術(shù)(庫侖法),精確地測量多鍍層的厚度
· 圖形顯示的交互方式,易于操作
· 適用性廣泛:可測量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度,也適合測量多鍍層厚度
· 提供全面的附件產(chǎn)品供您選擇,可滿足特定需求
應用:
· 金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層
· 單層或多層的鍍層厚度測量
· 特別適用于通過 STEP 測試進行多層鎳測量
· 適用于 0.05 μm 至 40 μm 的鍍層厚度測量