熱電阻溫度計熱電阻（RTD）溫度計，適用于衛(wèi)生和無菌應用場合
公制型儀表，采用通用技術
熱電阻溫度計
• 專門設計用于食品&飲料和生命科學行業(yè)中的衛(wèi)生和無菌應用場合
• 測量范圍為–50…+200 °C (–58…+392 °F)
• Z大壓力為 50 bar (725 psi)
• Z高防護等為 IP69K
• 可以在非防爆區(qū)域中使用
模塊化變送器
相比于不經過溫度變送器而直接接線的測量方法，Endress+Hauser 能為用戶提供 高測量精度、高測量可靠性的溫度變送器。根據(jù)實際工況條件，選擇下列信號輸出 和通信方式：
4…20 mA HART®模擬量輸出
優(yōu)勢
• 高性價比和發(fā)貨迅速
• 用戶友好且可靠的從產品選型至維護過程
• 認證：衛(wèi)生型標準，符合 3-A®認證、EHEDG 測試、ASME BPE 認證、FDA 認證、TSE 適用性認證
• 提供多種過程連接
熱電阻溫度計
測量原理
熱電阻(RTD)
熱電阻采用符合 IEC 60751 標準的 Pt100 溫度傳感器。溫度傳感器為溫度敏感性鉑熱電阻，阻抗 為 100 ? (0 °C (32 °F)時)，溫度系數(shù)為 α = 0.003851 °C-1。
通常，有兩種不同類型的鉑熱電阻：
• 繞線式(WW)：由兩根細的高純度鉑絲在陶瓷載體內繞制而成，并通過陶瓷保護層在載體頂部 和底部對鉑絲進行密封處理。此類熱電阻具有高可重現(xiàn)性，過程溫度高達 600 °C (1112 °F)時， 仍能保證良好的阻抗-溫度關系的長期穩(wěn)定性。繞線式(WW)熱電阻的體積較大，抗振性較差。
• 薄膜式鉑電阻溫度計(TF)：在真空狀態(tài)下，將厚度約為 1 μm 的超高純度鉑層汽化固定在陶瓷基 板上，光刻制作而成。由此構成的鉑導體形成測量阻抗。附加覆蓋層和鈍化層可靠保護薄鉑 層，防止高溫條件下出現(xiàn)氧化和污染。
薄膜式(TF)熱電阻與繞線式(WW)熱電阻相比，突出優(yōu)點為較小的體積和較好的抗振性。高溫條件 下，薄膜式(TF)熱電阻的阻抗-溫度關系偏差較小，符合 IEC 60751 標準。因此，薄膜式(TF)熱電阻的溫度測量誤差可達溫度等 A，符合 IEC 60751 標準(Z高溫度約為 300 °C (572 °F))。所以， 薄膜式(TF)熱電阻通常僅在溫度低于 400 °C (752 °F)的條件下測量。
