Nanosurf CoreAFM原子力顯微鏡
CoreAFM智能地聯(lián)合原子力顯微鏡的核心部件來實(shí)現(xiàn)多功能化與方便使用。正是基于這一根本的設(shè)計(jì)思路, CoreAFM合理地實(shí)現(xiàn)了優(yōu)化AFM的功能。
高性價(jià)比緊湊型科研用原子力顯微鏡
●具有價(jià)格優(yōu)勢的科研用原子力顯微鏡（AFM）
●集成系統(tǒng)，占空間小
●33種模式和功能
●操作使用簡單
CoreAFM智能地聯(lián)合原子力顯微鏡的核心部件來實(shí)現(xiàn)多功能化與方便使用。正是基于這一根本的設(shè)計(jì)思路, CoreAFM合理地實(shí)現(xiàn)了優(yōu)化AFM的功能。Nanosurf CoreAFM原子力顯微鏡
CoreAFM融合了新型柔性導(dǎo)向掃描頭，XYZ樣品臺(tái)，攝像頭，主動(dòng)隔振臺(tái)和氣流屏蔽于一個(gè)一體化小型儀器中，使得這一完整的AFM系統(tǒng)具有的緊湊尺寸。該系統(tǒng)配有專為CoreAFM掃描頭開發(fā)的全數(shù)字24位控制器?，F(xiàn)代化的AFM的所有*功能都是CoreAFM系統(tǒng)的組成部分;要使CoreAFM投入運(yùn)行，您需要做的就是連接控制器，并插上電源和USB。Nanosurf CoreAFM原子力顯微鏡
易用性
您立刻就會(huì)看出設(shè)置和操作CoreAFM是多么容易。觀看視頻，了解主要功能的演示，以及如何使用該系統(tǒng)進(jìn)行測量的簡要教程。
峰值-保護(hù)
Isostage的更深層系統(tǒng)集成體現(xiàn)在*的 峰值-保護(hù), 可消除成像過程中的毛刺。盡管Isostage是一種主動(dòng)隔振系統(tǒng)，但當(dāng)失真太嚴(yán)重時(shí)仍會(huì)出現(xiàn)毛刺。峰值-保護(hù)檢測到這種異常并重新掃描線條以獲得無失真圖像。
功能強(qiáng)大且多樣
采用24位ADC和DAC的電子技術(shù)可確保100×100×12μm掃描頭的高分辨率的XYZ三個(gè)軸向的驅(qū)動(dòng)，而且具有于懸臂的低噪聲下的力檢測。32種標(biāo)準(zhǔn)的和可選的模式與*兼容的附件使CoreAFM成為從材料研究到生命科學(xué)和電化學(xué)等應(yīng)用的工具。以CoreAFM基本的功能為起點(diǎn)，所有可選功能都可以方便快捷地得到擴(kuò)展。
CoreAFM 成像模式
以下描述為儀器所具備的模式。某些模式可能需要其他組件或軟件選項(xiàng)。詳情請瀏覽產(chǎn)品手冊或直接。
標(biāo)準(zhǔn)成像模式
靜態(tài)力模式
橫向力模式
動(dòng)態(tài)力模式 (輕敲模式)
相位成像模式
磁學(xué)性能
磁場力顯微鏡
電學(xué)性能
導(dǎo)電探針原子力顯微鏡 (C-AFM)
壓電力顯微鏡 (PFM)
靜電力顯微鏡 (EFM)
開爾文探針力顯微鏡 (KPFM)
機(jī)械性能
力譜
力調(diào)制
硬度和彈性模量
黏附力
展開與拉伸
力曲線成像
刻蝕和納米操縱
電化學(xué)原子力顯微鏡(EC-AFM)
包含的測量模式
CoreAFM開箱就可以實(shí)現(xiàn)靜態(tài)力、動(dòng)態(tài)力、相位成像、磁場力、橫向力、力調(diào)制、標(biāo)準(zhǔn)力譜和標(biāo)準(zhǔn)刻蝕。您還可以使用CoreAFM模式工具盒來增強(qiáng)您的測量體驗(yàn)。
包含的標(biāo)準(zhǔn)模式工具盒
CoreAFM自配置的靜態(tài)力模式工具盒, 動(dòng)態(tài)力模式工具盒, 以及 相位成像模式工具盒 可以讓您立即開始使用。根據(jù)測量模式的不同，模式組件可以包括樣品、相配的懸臂、附件或它們的組合。
附加的標(biāo)準(zhǔn)模式工具盒
可單獨(dú)購買的附加的標(biāo)準(zhǔn)模式工具包包括標(biāo)準(zhǔn)力譜工具盒, 標(biāo)準(zhǔn)刻蝕工具盒, 標(biāo)準(zhǔn)磁力模式MFM工具盒, 標(biāo)準(zhǔn)液體模式工具盒, 橫向力模式工具盒, 和 力調(diào)制模式工具盒.
CoreAFM 的應(yīng)用示例
石墨烯的開爾文探針力顯微(KPFM)
石墨烯屬于二維材料范疇，對新設(shè)備和新材料的研發(fā)具有重要意義。除了對石墨烯進(jìn)行原子分辨率成像以了解更多的晶體取向、邊緣和缺陷外，石墨烯的功能特性也備受關(guān)注。
在本應(yīng)用說明中，多層石墨烯采用開爾文探針力顯微鏡(KPFM)成像，使用CoreAFM 研究單個(gè)薄片上的接觸電位差變化。
用50x NA0.9物鏡在直立顯微鏡上拍攝的光學(xué)圖像。取圖方框:記錄石墨烯KPFM數(shù)據(jù)和AFM圖像的區(qū)域
多層石墨烯薄片是通過石墨的機(jī)械剝落和隨后轉(zhuǎn)移到硅-硅氧化物基體上而產(chǎn)生的。KPFM測量采用單次運(yùn)行模式，記錄形貌掃描過程中的接觸電位。
用直立顯微鏡定位基體上的薄片，做上標(biāo)記，使用CoreAFM的頂視攝像頭將相同的薄片放置在微懸臂下，之后記錄石墨烯和KPFM數(shù)據(jù)的AFM圖像。
多層石墨烯薄片的AFM形貌圖像上的接觸電位差的疊加。
樣品:瑞士蘇黎世聯(lián)邦理工學(xué)院 Hiske Overweg, Klaus Ensslin,
所有測量均使用配備有來自Nanosensors的PPP-EFMR微懸臂的 CoreAFM系統(tǒng) 進(jìn)行。處理石墨烯的AFM圖像用的是MountainsMap SPM。
平面外壓電響應(yīng)力顯微鏡(PFM)在鈮酸鋰上的應(yīng)用
鈮酸鋰Lithium Niobite (LiNbO3) 是一種光學(xué)透明的壓電響應(yīng)材料，用于壓電傳感器或手機(jī)。我們用CoreAFM測試了LiNbO3樣品（PFM03，來自愛沙尼亞TipsNano）。樣品具有規(guī)則的域結(jié)構(gòu)，周期為10-μm。自發(fā)極化在相鄰域中具有相反的方向。
為了在成像期間測量壓電響應(yīng)，當(dāng)光柵掃描樣品上的懸臂時(shí)，將7.5V AC電壓施加到微懸臂上。響應(yīng)于施加的電壓，樣品周期性地膨脹和收縮，與激發(fā)頻率同相或反相。雖然測量到的小的RMS粗糙度為0.3 nm，在形貌上卻無法識(shí)別這些域結(jié)構(gòu)。然而，在平面外壓電響應(yīng)中可以容易地識(shí)別它們。
