蔡司X射線顯微鏡Xradia 610 & 620 Versa采用改進的光源和光學技術
X射線計算機斷層掃描成像領域面臨的兩大挑戰(zhàn)是:實現(xiàn)大尺寸樣品和大工作距離下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的兩款X射線顯微鏡憑借以下優(yōu)勢解決了這些挑戰(zhàn):系統(tǒng)可提供高功率的X射線源,顯著提高X射線通量,從而加快了斷層掃描速度。工作效率提高達兩倍,而且不會影響空間分辨率。同時,X射線光源的穩(wěn)定性得到提升,使用壽命也更長。
蔡司X射線顯微鏡Xradia 600 Versa系列主要特性包括:
?高空間分辨率500nm,小體素40 nm
?與蔡司Xradia 500Versa系列相比,工作效率提高兩倍
?更加簡便易用,包括快速激活源
?能夠在較大的工作距離下對更廣的樣品類型和尺寸的樣品進行亞微米特征的觀察
持續(xù)改進和可升級性
蔡司X射線顯微鏡旨在通過不斷創(chuàng)新和發(fā)展進行升級和擴展,以保護我們客戶的利益。這樣可以確保隨著前沿技術的不斷進步,顯微鏡技術也能向前發(fā)展,從蔡司Xradia Context microCT到蔡司Xradia 500/510/520 Versa,再到現(xiàn)在新增的蔡司Xradia 610/620 Versa,用戶都可以將系統(tǒng)升級至的X射線顯微鏡。
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