一、概述
高壓開(kāi)關(guān)柜是使用廣且數(shù)量多的開(kāi)關(guān)設(shè)備。由于在設(shè)計(jì)、制造、安裝和運(yùn)行維護(hù)等方面存在著不同程度的問(wèn)題，因而事故率比較高，在諸多性質(zhì)的開(kāi)關(guān)柜事故中，絕緣事故多發(fā)生于10千伏及以上電壓等級(jí)，造成的后果也很嚴(yán)重。特別是小車式開(kāi)關(guān)柜，絕緣事故率更高，而且往往一臺(tái)出現(xiàn)事故，殃及鄰柜的現(xiàn)象更為突出。因此，迫切需要對(duì)開(kāi)關(guān)柜實(shí)行狀態(tài)檢修，對(duì)設(shè)備運(yùn)行狀況進(jìn)行實(shí)時(shí)和定時(shí)的在線監(jiān)測(cè)，根據(jù)設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)和絕緣的劣化程度，確定檢修時(shí)問(wèn)和措施，減少停電時(shí)間和事故的發(fā)生，提高電力裝置運(yùn)行的安全可靠性及自動(dòng)化程度。
高壓開(kāi)關(guān)柜的絕緣故障主要表現(xiàn)為外絕緣對(duì)地閃絡(luò)擊穿，內(nèi)絕緣對(duì)地閃絡(luò)擊穿，相間絕緣閃絡(luò)擊穿，雷電過(guò)電壓閃絡(luò)擊穿，瓷瓶套管、電容套管閃絡(luò)、污閃、擊閃、擊穿、爆炸，提升桿閃絡(luò)，CT閃絡(luò)、擊穿、爆炸，瓷瓶斷裂等。
各類絕緣缺陷發(fā)展到終擊穿，釀成事故之前，往往先經(jīng)過(guò)局部放電階段，局部放電的強(qiáng)弱能夠及時(shí)反映絕緣狀態(tài)，因此通過(guò)在線監(jiān)測(cè)局部放電來(lái)判斷絕緣狀態(tài)為實(shí)現(xiàn)開(kāi)關(guān)柜絕緣在線監(jiān)測(cè)及診斷的有效手段。
開(kāi)關(guān)柜超高頻局放監(jiān)測(cè)及溫升在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)是高壓開(kāi)關(guān)及開(kāi)關(guān)柜、電纜局放在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)能夠長(zhǎng)期運(yùn)行，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)開(kāi)關(guān)柜在運(yùn)行過(guò)程中的局部放電情況，可以及時(shí)對(duì)其絕緣異常狀態(tài)和放電性故障做出預(yù)警，為其正常運(yùn)行提供必要的指導(dǎo)數(shù)據(jù)。
1.1 開(kāi)關(guān)柜的結(jié)構(gòu)
開(kāi)關(guān)柜裝備有斷路器、CT、PT、保護(hù)繼電器，檢測(cè)設(shè)備和輔助設(shè)備，除了外部線路，開(kāi)關(guān)柜是由金屬外殼內(nèi)的配線連接而成，見(jiàn)圖1。
1.2開(kāi)關(guān)柜電力設(shè)備的絕緣缺陷
高壓開(kāi)關(guān)柜有各種各樣的電力設(shè)備，例如斷路器、MOF、VCB、CT、PT、LA、COS、PF、MOLD TR、母線等，而低壓開(kāi)關(guān)設(shè)備有MCCB、CT、PT、CV開(kāi)關(guān)柜等。開(kāi)關(guān)柜的設(shè)備故障包括由于長(zhǎng)時(shí)間使用引起的絕緣缺陷，由于觸點(diǎn)的不良連接引起的放電的瞬間短路以及各個(gè)連接部分，過(guò)熱、電涌、電流故障等。圖2 通過(guò)分布圖表明了引起開(kāi)關(guān)柜故障的原因。
開(kāi)關(guān)柜超高頻局放監(jiān)測(cè)及溫升在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)性能參數(shù)：
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測(cè)量通道： 2通道（擴(kuò)展至30通道）
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采樣精度： 12Bit
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傳感器類型： TEV傳感器
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TEV 測(cè)量：
帶寬： 3-100MHz
測(cè)量范圍： -20-60dBmV
測(cè)量誤差： ±1dBmV
分辨率： 0.1dB
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產(chǎn)品通道轉(zhuǎn)換時(shí)間： 不超過(guò)10秒
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電源： 單相、220V、50Hz、20W
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運(yùn)行環(huán)境溫度： -10～50℃
