標(biāo)準(zhǔn)版溫度循環(huán)試驗(yàn)機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱
參照標(biāo)準(zhǔn)
本試驗(yàn)箱符合GB/T2423.1 低溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.2高溫試驗(yàn)方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法。
GJB 150.3高溫試驗(yàn);GJB 150.4 低溫試驗(yàn);
GB10588-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標(biāo)準(zhǔn)中所要求的試驗(yàn)
標(biāo)準(zhǔn)版溫度循環(huán)試驗(yàn)機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱
高溫槽溫度范圍:+60 ~200℃.
低溫槽溫度范圍:-10℃~-70℃
實(shí)驗(yàn)箱沖擊溫度:高溫 +60~150℃.低溫 (-10~ -40℃)
高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤10S
高低溫恢復(fù)時(shí)間:3~5min(非線性空載下)
控制精度:溫度±0.2℃(指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差)
溫度波動(dòng)度:≤0.5℃(溫度波動(dòng)度為中心點(diǎn)實(shí)測(cè)高溫度和低溫度之差的一半)
溫度誤差:≤±1℃(工作室溫度控制器顯示值的平均溫度減去中心點(diǎn)實(shí)測(cè)的平均溫度)
溫度均勻度:≤2.0℃(溫度均勻度為每次測(cè)試中實(shí)測(cè)高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值)
預(yù)熱區(qū)升溫速度: ≥3℃/min(非線性)
預(yù)冷區(qū)降溫速度: ≥2℃/min(非線性)
執(zhí)行與滿足的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GJB360.7-87 溫度沖擊試驗(yàn)
SJ/T10187-91Y73 系列溫度變化試驗(yàn)箱—箱式
GJB150.3-86 GJB150.5-86
GJB150.4-86 電子冷熱沖擊試驗(yàn)箱,電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱,電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
溫度范圍:-40℃---10℃~60℃-150℃/-70℃---10℃~60℃-150℃
數(shù)碼測(cè)試高低溫廠家箱|50L冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備|兩箱式溫沖測(cè)試箱產(chǎn)品結(jié)構(gòu):
試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)形式:試驗(yàn)箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式,既試驗(yàn)箱由位于上部的高溫試驗(yàn)箱,位于下部的低溫試驗(yàn)箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜(系統(tǒng))所組成。此方式箱體占地面積小、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀,制冷機(jī)組置于獨(dú)立的機(jī)組箱體內(nèi),以減少制冷機(jī)組運(yùn)行時(shí)的震動(dòng)、噪聲對(duì)試驗(yàn)箱的影響,同時(shí)便于機(jī)組的安裝和,電器控制面板置于試驗(yàn)箱的左側(cè)板上以便于運(yùn)行操作。