適用于封裝LED、光學透鏡、鏡頭等近場光度測量,及需要近場分析的光源的測量,測試參數包括近場光分布和亮度分布,通過算法亦可得到光源的光線數據,并可以推算出光源的總光通量和空間任意位置的光強分布。系統(tǒng)輸出的光線模型能與Tracepro等光學軟件相配合,更方便,準確地進行照明產品的二次光學設計和研發(fā)。
適用于封裝LED、光學透鏡、鏡頭等近場光度測量,及需要近場分析的光源的測量,測試參數包括近場光分布和亮度分布,通過算法亦可得到光源的光線數據,并可以推算出光源的總光通量和空間任意位置的光強分布。系統(tǒng)輸出的光線模型能與Tracepro等光學軟件相配合,更方便,準確地進行照明產品的二次光學設計和研發(fā)。