一、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)三箱供電條件:
AC380V三相四線 +保護(hù)接地
電壓允許波動(dòng)范圍:±10%V
頻率允許波動(dòng)范圍:(50±0.5)HZ
TN-S方式供電或TT方式供電
保護(hù)地線接地電阻小于4Ω
二、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)三箱測(cè)試條件:
- 三相沖擊模式:
高溫60℃~ 150℃,測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)
常溫沖擊5min~99h可任意調(diào)節(jié)
低溫 -10℃ ~ -65℃,測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)
- 兩箱沖擊模式
高溫60℃~ 150℃,測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)
低溫 -10℃ ~ -65℃,測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)
三、高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足試驗(yàn)方法:
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件