一、半導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀-電導(dǎo)率儀|電導(dǎo)儀|鹽度計(jì)適用范圍
四端測(cè)試法是目前較*之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。
At present, the four terminal test method is an advanced test method, which mainly aims at the product test with high precision requirements. The instrument is widely used in production enterprises, colleges and universities, scientific research departments, and is an important tool for the inspection and analysis of conductor materials and semiconductor material quality.
The instrument is equipped with various measuring devices to test the conductivity of different materials. LCD display, no need for manual calculation, with temperature compensation function, conductivity unit automatic selection, best-300c material conductivity tester automatic measurement and automatic range conversion according to the test results, no need for manual multiple and repeated settings. Optional: equipped with software can be controlled by computer, and save and print data, automatically generate charts and reports.
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求
BEST-300C型材料電導(dǎo)率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試試導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭和測(cè)試臺(tái)等三部分組成。
主機(jī)主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。自動(dòng)/手動(dòng)量程可選；電阻率、方阻、電阻測(cè)試類別快捷切換：儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入，簡(jiǎn)便可靠；具有零位、滿度自校功能；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電鋰電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配探頭，也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
儀器具有測(cè)量范圍寬、精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、外形美觀、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
二、半導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀-電導(dǎo)率儀|電導(dǎo)儀|鹽度計(jì)電阻測(cè)量范圍：
1、電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、
電 阻：1×10-5～2×105Ω
電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm
分辨率： 小1μΩ
測(cè)量誤差±5%
2、測(cè)量電壓量程： 2mV 20mV 200mV 2V
測(cè)量精度±（0.1%讀數(shù)）
分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA,
⑶誤差：±0.2%讀數(shù)±2字
4. 主機(jī)外形尺寸：330mm*340mm*120mm
5、顯示方式：液晶顯示
6、電源：220±10% 50HZ/60HZ
7、標(biāo)配：測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。
測(cè)量范圍、分辨率（括號(hào)內(nèi)為拓展量程，可定制）
電 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/□）
直 徑： SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
SZT-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(zhǎng)(高)度： 測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
電阻率：當(dāng)某種材料截成正方體時(shí)，平行對(duì)面間的電阻值只與材料的類別有關(guān)，而與正方形邊長(zhǎng)無關(guān)，這種單位體積的阻值可反映材料的導(dǎo)電特性，稱為電阻率（體電阻率），記為：ρ，標(biāo)準(zhǔn)單位：Ω-m,常用單位Ω-cm.
方塊電阻：薄膜類導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料截成薄層正方形時(shí)，平行對(duì)邊間的電阻值只與材料的類別（電阻率）和厚度有關(guān)，而與正方形邊長(zhǎng)無關(guān)，這種單位面積的對(duì)邊間的阻值可反映薄膜的導(dǎo)電特性和厚度信息，稱為方塊電阻，簡(jiǎn)稱方阻。記為：R□，標(biāo)準(zhǔn)單位：Ω/
使用方法
BEST-300C測(cè)試儀能夠測(cè)量半導(dǎo)體材料體電阻率ρ、方塊電阻（薄片電阻率）R口以及體電阻R，測(cè)量時(shí)需調(diào)整相應(yīng)的修正系數(shù)和選擇相應(yīng)的功能。本產(chǎn)品不但提供了電阻率ρ、方塊電阻R口以及體電阻R測(cè)試的基本修正系數(shù)設(shè)定，還提供了產(chǎn)品厚度G、外形和測(cè)試位置的修正系數(shù)D設(shè)定，*的提高了測(cè)試精度。測(cè)試類別的快捷選擇方式，方便了用戶同時(shí)測(cè)試多個(gè)參數(shù)，提高測(cè)試效率。
The best-300c tester can measure the bulk resistivity ρ, block resistance (sheet resistivity) r port and bulk resistance R of semiconductor materials. When measuring, it is necessary to adjust the corresponding correction coefficient and select the corresponding function. This product not only provides the basic correction coefficient setting of resistivity ρ, block resistance R port and bulk resistance R test, but also provides the correction coefficient D setting of product thickness g, shape and test position, greatly improving the test accuracy. The quick selection of test category makes it convenient for users to test multiple parameters at the same time and improves the test efficiency.
北京北廣精儀主營(yíng)產(chǎn)品：*材料試驗(yàn)機(jī)（拉力機(jī)）、電壓擊穿試驗(yàn)儀、體積表面積電阻率測(cè)試儀、介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測(cè)試儀、低溫脆性沖擊試驗(yàn)儀、耐電弧性能試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕試驗(yàn)儀、環(huán)境試驗(yàn)箱、維卡熱變形試驗(yàn)儀、轉(zhuǎn)子硫化儀、熔體流動(dòng)速率儀、水平垂直燃燒試驗(yàn)儀、門尼粘度試驗(yàn)儀、阿克隆磨耗試驗(yàn)機(jī)、氣動(dòng)沖片機(jī)、手動(dòng)沖片機(jī)、滑動(dòng)摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)、啞鈴制樣機(jī)、簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī)、懸臂梁沖擊試驗(yàn)機(jī)、氧指數(shù)測(cè)定儀、水分測(cè)定儀、海綿密度測(cè)定儀、橡膠回彈儀等
第3部分：實(shí)驗(yàn)室用混合和攪拌設(shè)備的特殊要求（IEC 61010-2-051）；
2007版與1995版比較有較大的改動(dòng)：標(biāo)準(zhǔn)的許多條款在文字上作了修改，標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)也進(jìn)一步調(diào)整，對(duì)一些試驗(yàn)方法有了更詳細(xì)的闡述。
本部分是對(duì) GB 4793.1-1995《測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分：通用要求》（idt IEC 61010-1:1990）的修訂。
略去IEC 61010-1:2001的前言和“附錄H”定義索引的內(nèi)容。
也包括非測(cè)量設(shè)備，如信號(hào)發(fā)生器、測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)器、電源、換能器和發(fā)射機(jī)等。注：除了設(shè)計(jì)成僅嵌裝在其他設(shè)備上的畫板儀表外，所有指示和記錄用的電氣測(cè)量?jī)x器均在GB 4793的范圍內(nèi)。
GB 4793的本部分規(guī)定了對(duì)其適用范圍內(nèi)的所有設(shè)備均能普遍適用的通用安全要求，對(duì)于特定類型的設(shè)備，這些普遍適用的通用安全要求要秀GB 4793的其他部分的一條或一條以上的特殊要求來補(bǔ)充或修改。
第4部分：實(shí)驗(yàn)室用處理科研材料的蒸壓器的特殊要求（IEC 61010-2-040）；
這些符合下列a)~d)定義的任何一種設(shè)備可以配備計(jì)算裝置：電氣試驗(yàn)和測(cè)量設(shè)備，是指用電氣方法試驗(yàn)、測(cè)量、指示或記錄一個(gè)或多個(gè)電量或非電量的設(shè)備。
為了使用方便，本部分做了下列編輯性修改：用小數(shù)點(diǎn)“.”代替作為小數(shù)點(diǎn)的逗號(hào)“。”。
在防火要求中新引入了限能電路的概念，并給出了判定數(shù)據(jù)；對(duì)應(yīng)于防液體危險(xiǎn)，標(biāo)準(zhǔn)新增了液體壓力試驗(yàn)的程序等。
第7部分：實(shí)驗(yàn)室用離心機(jī)的特殊要求（IEC 61010-2-020）。
注：上述部分的名稱會(huì)隨IEC標(biāo)準(zhǔn)名稱的變化而改變。
本部分等同采用IEC 61010-1:2001《測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分：通用要求》（英文版），其技術(shù)內(nèi)容和結(jié)構(gòu)與IEC 61010*等同，并納入了其技術(shù)勘誤1和2的內(nèi)容（右側(cè)用雙豎線表示）。
GB 4793的本部分規(guī)定了預(yù)定作專業(yè)用、工業(yè)過程用以及教育用的電氣設(shè)備的通用安全要求，當(dāng)在其環(huán)境條件下使用時(shí)。
第1部分：通用要求（IEC 61010-1）；
第2部分：試驗(yàn)和測(cè)量電路的特殊要求（IEC 61010-2-030）；
第6部分：用于醫(yī)療材料的消毒器和清洗消毒設(shè)備的特殊要求（IEC 61010-2-010）；
GB 4793的本部分的全部技術(shù)內(nèi)容為強(qiáng)制性。GB4793《測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求》目前擬分為7個(gè)部分；
其余未有等同或修改采用為我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，在本部分中均被直接引用。對(duì)原文中個(gè)別編輯性錯(cuò)誤進(jìn)行了修正。
對(duì)于IEC 61010-1:2001引用的其他國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中有被等同或修改采用作為我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的，本部分用我國(guó)的這些國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)代替對(duì)應(yīng)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)；
第5部分：電工測(cè)量和試驗(yàn)用手持探頭組件的特殊要求（IEC 61010-2-031）；
例如在環(huán)境條件的正常環(huán)境條件基礎(chǔ)上增加了擴(kuò)展環(huán)境條件；防電擊部分中重新定義了安全電壓限值，并補(bǔ)充了潮濕場(chǎng)所的限值；
1.深圳市華天啟科技有限公司
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