Agilent4287A射頻測(cè)試儀LCR在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供精確,可靠和快速測(cè)量,以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測(cè)量技術(shù)不同,采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。生產(chǎn)率高,質(zhì)量可靠 4287A適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量非??臁4送?,在小測(cè)試電流(100μA)優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率,因?yàn)樗璧娜∑骄^程非常短。聯(lián)絡(luò)時(shí)請(qǐng)說明來(lái)自,以獲得更好效果。
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