武漢不銹鋼溫循箱結(jié)構(gòu)
武漢不銹鋼溫循箱結(jié)構(gòu)把產(chǎn)品測試帶到了一個全新的階段。高性能Platinum系列試驗(yàn)箱能使箱內(nèi)環(huán)境和被測產(chǎn)品產(chǎn)生快速溫度變化，從而大大減少了試驗(yàn)時間，提高了試驗(yàn)的工作效率?？焖贉囟茸兓彩贡粶y產(chǎn)品產(chǎn)生了更大的應(yīng)力，因而也提高了應(yīng)力篩選效率。
*設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)
Model SE-400
Temperature Range: +180°C to -70°C
Change Rate: 5°C TO 20°CInterior Dimentions(cm): 81w X 67d X 71h
Exterior Dimentions(cm): 101w X 207d X 176hModel SE-600
Temperature Range: +180°C to -70°C
Change Rate: 3°C TO 15°CInterior Dimentions(cm): 102w x 67d x 86h
Exterior Dimentions(cm): 122w x 207d x 217hModel SE-1000
Temperature Range: +180°C to -70°C
Change Rate: 3°C TO 15°CInterior Dimentions(cm): 115w x 90d x 110h
Exterior Dimentions(cm): 135w x 211d x 225h
快速溫變試驗(yàn)(ESS)與冷熱沖擊試驗(yàn)的比較
*近幾年我們跟很多客戶交流，談到冷熱沖擊試驗(yàn)和快速溫變試驗(yàn)兩者之間的區(qū)別時，由于每個用戶測試產(chǎn)品不同，測試的階段和目的也不相同，以至于對這兩種測試方法存在很多不同的見解。我們收集了一些大家比較認(rèn)同的見解做為參考，下面是對比表，相信大家以后對這兩種試驗(yàn)方法和試驗(yàn)設(shè)備會更了解。
項(xiàng)目 | 冷熱沖擊試驗(yàn) |
快速溫變（環(huán)境應(yīng)力篩選ESS）
| 備注 |
試驗(yàn)?zāi)康?/span> |
主要考核試件在溫度瞬間急劇變化一定次數(shù)后,檢測試樣因熱脹冷縮(CTE見注釋#1)所引起的化學(xué)變化或物理破壞 |
利用外加的環(huán)境應(yīng)力，使?jié)摯嬗陔娮赢a(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)制程中，因不佳元器件、制造工藝和其它原因等所造成的早期故障提早發(fā)生而暴露出來，給予修正和更換
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試驗(yàn)?zāi)康牟灰粯?/span> |
測試階段 |
主要在研發(fā)設(shè)計階段,試制階段
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主要在量產(chǎn)階段 |
階段不一樣 |
測試對象 |
主要用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，現(xiàn)在用的*多的還是電子產(chǎn)品的元器件或者組件級（如PCBA,IC） |
主要適用于電子產(chǎn)品的元器件級，組件級和設(shè)備級 | 冷熱沖擊很少用于做設(shè)備級 |
溫度變化速率要求 |
無溫變速率指標(biāo),但要求溫度恢復(fù)時間，參考點(diǎn)一般在出風(fēng)口，國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)都要求5min以內(nèi)，越快越好；也有標(biāo)準(zhǔn)要求在產(chǎn)品表面量測，溫度恢復(fù)時間在15min以內(nèi)
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為了增強(qiáng)篩選效果，常見快速溫變箱建議選擇溫變速率為10~25℃/min，且溫變速率可控； |
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樣品失效模式 |
由于材料蠕變（見注釋#2）及疲勞損傷引起的失效，也稱脆性失效
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由于材料疲勞（見注釋#3）引起的失效 |
失效模式不一樣 |
常見故障現(xiàn)象 |
如零部件的變形或破裂，絕緣保護(hù)層失效，運(yùn)動部件的卡緊或松弛電氣和電子元器件的變化，快速冷凝水或結(jié)霜引起電子或機(jī)械故障 |
如涂層、材料或線頭上各種微裂紋擴(kuò)大；使粘結(jié)不好的接頭松馳；使螺釘連接或鉚接不當(dāng)?shù)慕宇^松馳；材料熱膨脹系數(shù)不同產(chǎn)生的變形和應(yīng)力引起的故障, 使固封材料絕緣下降；使機(jī)械張力不足的壓配接頭松馳；使質(zhì)差的釬焊接觸電阻加大或造成開路；使運(yùn)動件及密封件故障
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從故障現(xiàn)象看上看二者有一些相同之處 |
參考標(biāo)準(zhǔn) | JESD22-A106B GJB-150-A MIL-STD-810G MIL-STD-202G | JEDEC JESD22-A104-b IEC68-2-1 MIL-STD-2164-85 IEC60749-25 |
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設(shè)備選擇 | a.對元器件（電容、電感、IC），板卡的中小尺寸產(chǎn)品，*優(yōu)選擇提籃式冷熱沖擊，測試效果更嚴(yán)苛 b.對超大尺寸產(chǎn)品，如液晶電視或者重型產(chǎn)品，建議選擇三箱式會更適合 c.如果遇到重型產(chǎn)品，而且尺寸也比較大，同時要求過沖小，可選擇水平式提籃冷熱沖擊箱做參考 d．除霜周期要求 | a.設(shè)備尺寸大小，常見尺寸 SE-400 L, SE-600 L, SE-1000 L或定制 b．實(shí)際測試溫度范圍（如: -40℃~85℃），同時也要求設(shè)備全程溫度范圍（如：-70℃~180℃） c.溫變速率要求；是線性溫變速率還是平均溫變速率；如有帶載溫變速率要求，要明確帶載情況，包括靜態(tài)負(fù)載（通常拿鋁錠做參考）和熱負(fù)載（產(chǎn)品帶電發(fā)熱） d.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)（如: IEC-60068-3-5 和GB/T 5170） |
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問題探討1：有些用戶認(rèn)為冷熱沖擊試驗(yàn)箱與快速溫變箱在某些特定條件下可以共用，比如：溫度沖擊測試條件是-40℃~85℃，溫度恢復(fù)時間5min以內(nèi)，高低溫駐留時間30min。如果快速溫變箱的溫變速率能達(dá)到25℃/min以上，他們認(rèn)為也滿足溫度恢復(fù)時間5min以內(nèi)的要求，就可以代替冷熱沖擊箱。但據(jù)我們實(shí)際測試的情況看，還是有很大差異的，尤其是冷熱沖擊箱的瞬間降溫和升溫速率，是遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于25℃/min的，一般都達(dá)到35℃/min以上，*終造成的失效模式是*不一樣的，所以不建議用快速溫變箱代替。
問題探討2：HASS高加速應(yīng)力篩選（熱應(yīng)力）也是ESS的一種測試方法， 只是溫變速率要求達(dá)到40℃/min以上，是以HALT高低溫極限試驗(yàn)完后，經(jīng)裁剪而得出的HASS試驗(yàn)條件，測試?yán)砟钍窃诨谠缙诘腅SS方法，只是施加更強(qiáng)的應(yīng)力，來幫助用戶更快捷，更有效的篩選產(chǎn)品早期故障。
題外話：關(guān)于HALT/HASS，其工作原理及操作都很簡單，*關(guān)鍵還是如何更好應(yīng)用設(shè)備，如產(chǎn)品測試過程如何監(jiān)控試樣；發(fā)現(xiàn)故障后如何解決；夾具的設(shè)計和使用；還有市場反饋問題與HALT發(fā)現(xiàn)的問題存在的不*性如何解決等等。
