輕松測量不可見之處METROTOM 800三坐標(biāo)
蔡司METROTOM工業(yè)CT適用于塑料制品及輕金屬部件的測量及檢測,傳統(tǒng)上對于零部件需借助于耗時(shí)的層層剖切破壞后方可檢測內(nèi)部隱藏結(jié)構(gòu),而蔡司METROTOM則可輕易可視化隱藏的結(jié)構(gòu),無需進(jìn)行復(fù)雜的裝夾操作。METROTOM 800三坐標(biāo)
蔡司METROTOM OS - 用戶友好性及功能強(qiáng)大
通過蔡司METROTOM OS簡短培訓(xùn)使用人員即可對零件進(jìn)行斷層掃描,并可窺探零件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。此軟件亦對有一定經(jīng)驗(yàn)的使用人員提供多樣化過濾器及偽影處理功能。斷層掃描數(shù)據(jù)可用于不同的評定及3D可視化。
基于蔡司CALYPSO的測量與評定
蔡司CALYPSO作為*的坐標(biāo)測量軟件廣泛用于多樣化的量測與評定。正如蔡司橋式測量機(jī),尺寸、形狀及位置的專業(yè)分析評定并不受限,具有一定經(jīng)驗(yàn)的蔡司CALYPSO用戶只需按照熟悉的步驟即可完成METROTOM數(shù)據(jù)的評定。用于橋式測量機(jī)的CALYPSO程序可導(dǎo)入METROTOM數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)測量結(jié)果的直接可比性。
蔡司體積可視化與分析
您可借助于蔡司CT可視化軟件或第三方程序?qū)Σ趟綧ETROTOM的體積數(shù)不清據(jù)進(jìn)行3D檢測與評定。
例如,快速獲取縮孔的空間分布及隱藏缺陷。
一次掃描,隨時(shí)評估
相關(guān)體積數(shù)據(jù)存檔若干年后仍可訪問及評定,例如,對于退回的產(chǎn)品,可追溯于發(fā)貨時(shí)是否已存在缺陷。
不妥協(xié)的可靠測量
蔡司METROTOM 借助于的校準(zhǔn)方法, 提供符合VDI/VDE 2630規(guī)范、可追溯的測量精度。無需通過額外傳感器的參考測量或通過有限的量規(guī)進(jìn)行額外校正。蔡司METROTOM實(shí)現(xiàn)了測量的簡單、快速與可靠。
所有部件的計(jì)量能力
可靠的直線導(dǎo)軌及軸承技術(shù)與其它蔡司測量機(jī)*, 確保蔡司METROTOM的高精度及重復(fù)性。所有的移動軸經(jīng)CAA修正, 即移動與旋轉(zhuǎn)軸均具有高精度測量能力。同時(shí), 3D體積計(jì)算時(shí)亦考慮相關(guān)幾何偏差。射線管與探測器組件特針對計(jì)量應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化,測量期間,可捕獲焦點(diǎn)位置并進(jìn)行相應(yīng)的補(bǔ)償。并通過探測器對像素的極小位置偏差進(jìn)行修正。