F20薄膜厚度測量儀
光學常熟，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到
測量厚度從1nm到10mm的*膜厚測量系統(tǒng)
F20薄膜厚度測量儀不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?；谀衬K化設(shè)計的特點，F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用：
• 測量厚度、折射率、反射率和穿透率：F20薄膜厚度測量儀
- 單層膜或多層膜疊加
- 單一膜層
- 液態(tài)膜或空氣層
• 不同條件下的測量，包括：
- 在平面或彎曲表面
- 光斑小可達20微米
- 桌面式、XY坐標自動化膜厚測量，或在線配置
所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時的和互聯(lián)網(wǎng)支持（24小時/每周5工作日）。這就是Filmetrics的優(yōu)勢！歡迎您試一試！
膜層范例
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。
這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導體材料，例如：
SiNX | TiO2 | DLC |
光刻膠SU-8 | 聚合物 | 有機電致發(fā)光器AIQ材料 |
非晶硅 | ITO | 硒化銅銦鎵CIGS |
翌穎科技(上海)有限公司主要為半導體、新能源企業(yè)和高校及研發(fā)中心提供各類精密進口制程及測量設(shè)備。提供全面的一對一*，技術(shù)支持，備件管理和咨詢服務(wù)。
