長(zhǎng)沙武漢高低溫低氣壓試驗(yàn)箱海拔真空測(cè)試箱，在高低溫低氣壓?jiǎn)雾?xiàng)或同時(shí)作用下，進(jìn)行貯存運(yùn)輸可靠性試驗(yàn)，并可同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)試。
適用范圍：航空、航天、電子、國防、科研和其它工業(yè)部門確定電工的電子科技產(chǎn)品（包括元器件、材料和儀器儀表）。
產(chǎn)品名稱：高低溫低氣壓試驗(yàn)箱
產(chǎn)品型號(hào)：GT-DQY-1000Z
技術(shù)參數(shù)：
1.工作室尺寸：GT-DQY-1000Z(1000×1000×1000)
2.溫度范圍：-40～150℃
3.溫度偏差：±2℃
4.溫度波動(dòng)度：±0.5℃
5.溫度均勻度：≤2℃
6.氣壓等級(jí):4～84kpa
7.升溫速率 3.0℃/min
8.降溫速率 1.0℃/min
操作步驟：
1. 將試驗(yàn)樣品連接好導(dǎo)線后放入箱內(nèi)。
2. 連接好抽氣管道。
3. 關(guān)好箱門，并打開真空泵，開始抽氣。
4. 當(dāng)氣壓達(dá)到試驗(yàn)大氣壓時(shí)，關(guān)上抽氣閥。
5. 讓氣壓保持試驗(yàn)規(guī)定時(shí)間。
6. 打開進(jìn)氣閥門，讓箱內(nèi)氣壓回到正常值。
7. 打開箱門，取出試驗(yàn)樣品。產(chǎn)品原理及作用
標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：
GB/T2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）
GB/T2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)節(jié)試驗(yàn)規(guī)程，試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法
GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
GJB150.3A-2009 軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法（高溫試驗(yàn)）
GJB150.4A-2009軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 （低溫試驗(yàn)）
GJB150.9A-2009軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 （濕熱試驗(yàn)）
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB10592-89 高低溫箱技術(shù)條件
GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
長(zhǎng)沙武漢高低溫低氣壓試驗(yàn)箱海拔真空測(cè)試箱，可根據(jù)客戶的要求設(shè)計(jì)客戶滿意的高低溫低氣壓試驗(yàn)箱。
