寬廣的溫度范圍,從 -100°C 到 500°CLFA 467 HyperFlash – 閃射法導(dǎo)熱儀
無須更換檢測器或爐體, LFA467 HyperFlash在同一臺儀器上可實(shí)現(xiàn) -100°C 到 500°C 的寬廣溫度范圍。加上目前市場上種類較豐富的可選配件,開創(chuàng)了熱物性測量的新天地。
進(jìn)樣器附有 16 個(gè)樣品位,樣品容納量為原來的 4 倍
LFA 467 HyperFlash 的一大優(yōu)勢是可以在整個(gè)溫度范圍內(nèi)連續(xù)測量 16 個(gè)樣品,大大縮短了測量時(shí)間。液氮補(bǔ)給系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)對檢測器與爐體的自動(dòng)補(bǔ)充液氮,保證儀器全天候不間斷測量。
| | ZoomOptics 得到的測量結(jié)果更準(zhǔn)確,減少測量誤差LFA 467 HyperFlash – 閃射法導(dǎo)熱儀 技術(shù)的 ZoomOptics 優(yōu)化了檢測器的檢測范圍,從而消除了孔徑光闌的影響。顯著增加了測量結(jié)果的精度。 *的采樣頻率(2MHz),特別適合于薄膜樣品 薄膜樣品及高導(dǎo)熱材料需要快速的數(shù)據(jù)采集速率,來精確地記錄樣品上表面的升溫過程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的數(shù)據(jù)采集速率,這是 LFA 系統(tǒng)*的。 - 溫度范圍:-100°C ... 500°C,單一爐體
- 非接觸式測量,IR 檢測器檢測樣品上表面升溫過程
- 數(shù)據(jù)采集速率:高達(dá) 2MHz(包括半升溫信號檢測,及 pulse mapping 技術(shù))-- 對于高導(dǎo)熱及薄膜樣品,采樣時(shí)間(約為半升溫時(shí)間 10 倍)可低至 1ms,樣品厚度較薄可至 0.01 mm 以下(取決于具體的導(dǎo)熱系數(shù))
- 熱擴(kuò)散系數(shù)測量范圍:0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
- 導(dǎo)熱系數(shù)測量范圍:< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
- 樣品尺寸:
- 直徑 6 mm ... 25.4 mm(包括方形樣品) - 厚度 0.01 mm ... 6 mm(樣品的厚度要求取決于不同樣品的導(dǎo)熱性能) - 16 個(gè)樣品位的自動(dòng)進(jìn)樣器
- 20 多種支架類型
- 豐富的測量模式,適應(yīng)各種類型的樣品。如各向異性材料,多層模式分析,薄膜,纖維,液體,膏狀物,粉末,熔融金屬,壓力下的測試,等等。
- Zoom Optics 優(yōu)化檢測器的檢測范圍(技術(shù))
- 保護(hù)的 pulse mapping 技術(shù)(US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse),用于脈沖寬度修正,可以提高比熱值的測量精度
- 氣氛:惰性、氧化性、靜態(tài)/動(dòng)態(tài)、負(fù)壓
- 遵從如下標(biāo)準(zhǔn): ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.
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