產品介紹: Ux-720新一代國產專業(yè)鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結果業(yè)界*。 采用了FlexFP-Multi技術,無論是生產過程中的質量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。 Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調節(jié)設計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。 X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業(yè)中品質的提升有了檢驗的保障。 Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,測試結果經(jīng)得起科學驗證。 樣品移動設計為樣品腔外部調節(jié),多點測試時移動樣品方便快捷,有助于提升效率。 設計更科學,軟硬件配合,機電聯(lián)動,輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。 軟件操作具有操作人員分級管理權限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。
產品指標:鍍層厚度檢測儀 測厚技術:X射線熒光測厚技術 測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層 測量下限:0.003um 測量上限:30-50um(以材料元素判定) 測量層數(shù):10層 測量用時:30-120秒 探測器類型:Si-PIN電制冷 探測器分辨率:145eV 高壓范圍:0-50Kv,50W X光管參數(shù):0-50Kv,50W,側窗類; 光管靶材:Mo靶; 濾光片:3種自動切換; CCD觀察:260萬像素 微移動范圍:XY15mm 輸入電壓:AC220V,50/60Hz 測試環(huán)境:非真空條件 數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式 準直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm 軟件方法:FlexFP-Mult 工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義 樣品腔:330×360×100mm |