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德國斯派克輝光放電光譜儀 型號:GDA-750
輝光放電分析(GDA)于1968年出現(xiàn),初用于各種塊狀金屬和合金的光譜化學(xué)分析。
這種分析方法不斷地發(fā)展,尤其擅長于表面和涂層分析。與傳統(tǒng)的激發(fā)技術(shù)相比,輝光放電
技術(shù)的突出優(yōu)點是能夠表層分析樣品的表層。
- 德國斯派克輝光放電光譜儀
適用于質(zhì)量控制和材料研究
在金屬分析領(lǐng)域中,輝光放電分析是濃度分析和表面分析理想的手段。
表面處理工藝過程,如表面滲碳硬化或滲碳熱處理等,都可以通過分析被處理材料的表面和
近表層區(qū)域?qū)崿F(xiàn)質(zhì)量控制。
采用濃度分布分析功能可以精確地測量涂(鍍)層厚度及化學(xué)成分。
對于傳統(tǒng)的分析方法不能解決的材料分析問題,輝光放電光譜技術(shù)可以作為優(yōu)先選用的方
法。
采用可選的射頻光源(GDA750輝光放電光譜儀)可以分析非導(dǎo)體材料和涂
層,如玻璃,陶瓷,釉質(zhì)和油漆涂層。
GDA750可以配備60個以上的分析通道,并且能充分地滿足高分辨率和高精度的分析要求。涂
(鍍)層的深度可測量至200um
表面分析和獲得的分辨率達(dá)1個原子層。
分析軟件具有強(qiáng)大功能并且靈活易用;
化學(xué)成分可以與其他特性,如被分析區(qū)域中的密度和質(zhì)量分布同時測定。
通過比較涂(鍍)層工藝過程(CVD,PVD)前后的表面特性,確保生產(chǎn)工藝過程化和
地避免廢品浪費。
GDA750也可用于塊狀樣品的分析(如金屬合金的化學(xué)成分),為復(fù)雜基體材料的分析提供具
有良好線性的工作曲線。