進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀
分析鍍層厚度和元素成份同時(shí)進(jìn)行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，多層鍍層的厚度測(cè)量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實(shí)用，準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)
一、技術(shù)參數(shù)進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀
采用X射線熒光光譜法無損測(cè)量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測(cè)量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）
- 鍍層元素范圍：鈦Ti～鈾U
包含常見的金Au、鎳Ni、銅Cu、銀Ag、錫Sn、鋅Zn、鉻Cr、鈀Pd等
- 測(cè)量方式：由上而下
- 探 測(cè) 器：高分辨空氣正比計(jì)數(shù)器（選配：Si-Pin，SDD)
- X射線裝置：W靶
- 電 壓：50kV（1.2mA）
- 放 大倍數(shù)：光學(xué)40X,彩色CCD，手動(dòng)變焦。
- 準(zhǔn) 直 器：標(biāo)配0.3mm，可選配0.5mm或4位多準(zhǔn)直器
- 鍍層層數(shù)：多至5層（四層鍍層、一層底材）
- 操作平臺(tái)：標(biāo)配：手動(dòng)/自動(dòng)（選配）
- 測(cè)量點(diǎn)尺寸：圓形測(cè)量點(diǎn)，直徑約0.2-0.8毫米
- 測(cè)量時(shí)間：通常35秒-180秒
- 樣品大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長(zhǎng)x寬x高)
- 儀器外觀尺寸：350 x 450 x 310 mm(長(zhǎng)x寬x高)
- 測(cè)量誤差：通常≤5%，視樣品具體情況而定。
- 可測(cè)厚度范圍：通常0.0001um到30um，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。
- 同時(shí)定量測(cè)量8個(gè)元素
- 定性鑒定材料達(dá)20個(gè)元素
- 工 作 電 壓：230V, 50/60Hz，120W
- 重 量：27kg
20、自動(dòng)測(cè)量功能：編程測(cè)量，自定測(cè)量；進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀
修正測(cè)量功能：底材修正，已知樣品修正
定性分析功能：光譜表示，光譜比較；
定量分析功能：合金成份分析
數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。
