一:試驗(yàn)原理
HDLF超低頻高壓發(fā)生器交流耐壓測(cè)試儀實(shí)際上是工頻耐壓試驗(yàn)和串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)的一種替代方法。我們知道,在對(duì)大型發(fā)電機(jī)、電纜等試品進(jìn)行工頻耐壓試驗(yàn)和串聯(lián)諧振交流耐壓時(shí),由于它們的絕緣層呈現(xiàn)較大的電容量,所以需要很大容量的試驗(yàn)變壓器或諧振變壓器。這樣一些巨大的設(shè)備,不但笨重,造價(jià)高,而且使用十分不便。為了解決這一矛盾,電力部門采用了降低試驗(yàn)頻率,從而降低了試驗(yàn)電源的容量。從國(guó)內(nèi)外多年的理論和實(shí)踐證明,用0.1Hz超低頻耐壓試驗(yàn)替代工頻耐壓試驗(yàn),不但能有同樣的等效性,而且設(shè)備的體積大為縮小,重量大為減輕 ,理論上容量約為工頻的五百分之一,且操作簡(jiǎn)單,與工頻試驗(yàn)相比*性更多。這就是為什么發(fā)達(dá)國(guó)家普遍采用這一方法的原因。國(guó)家發(fā)改委已制定了《35kV及以下交聯(lián)聚乙烯絕緣電力電纜超低頻(0.1Hz)耐壓試驗(yàn)方法》行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。我國(guó)正在推廣這一方法,本儀器是根據(jù)我國(guó)這一需要研制而成的??蓮V泛用于電纜、大型高壓旋轉(zhuǎn)電機(jī)的交流耐壓試驗(yàn)之中。
二:產(chǎn)品簡(jiǎn)介
HDLF超低頻交流耐壓測(cè)試儀接合了現(xiàn)代數(shù)字變頻先進(jìn)技術(shù),采用微機(jī)控制,升壓、降壓、測(cè)量、保護(hù)*自動(dòng)化。由于全電子化,所以體積小重量輕、大屏幕液晶顯示,清晰直觀、且能顯示輸出波形、打印試驗(yàn)報(bào)告。設(shè)計(jì)指標(biāo)*符合《電力設(shè)備測(cè)試儀器通用技術(shù)條件,第4部分:超低頻高壓發(fā)生器通用技術(shù)條件》電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),使用十分方便。現(xiàn)在國(guó)內(nèi)外均采用機(jī)械式的辦法進(jìn)行調(diào)制和解調(diào)產(chǎn)生超低頻信號(hào),所以存在正弦波波形不標(biāo)準(zhǔn),測(cè)量誤差大,高壓部分有火花放電,設(shè)備笨重,而且正弦波的二,四象限還需要大功率高壓電阻進(jìn)行放電整形,所以設(shè)備的整體功耗較大。本產(chǎn)品均能克服這樣一些不足之處,另外,還有如下特點(diǎn)需要特別說(shuō)明:
1.電流、電壓、波形數(shù)據(jù)均直接從高壓側(cè)采樣獲得,所以數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。
2.具有過(guò)壓保護(hù)功能,當(dāng)輸出超過(guò)所設(shè)定的限壓值時(shí),儀器將停機(jī)保護(hù),動(dòng)作時(shí)間小于20ms。
3.具有過(guò)流保護(hù)功能:設(shè)計(jì)為高低壓雙重保護(hù),高壓側(cè)可按設(shè)定值進(jìn)行精確停機(jī)保護(hù);低壓側(cè)的電流超過(guò)額定電流時(shí)將進(jìn)行停機(jī)保護(hù),動(dòng)作時(shí)間都小于20ms。
4.高壓輸出保護(hù)電阻設(shè)計(jì)在升壓體內(nèi),所以外面不需另接保護(hù)電阻。
5.由于采用了高低壓閉環(huán)負(fù)反饋控制電路,所以輸出無(wú)容升效應(yīng)。
三:技術(shù)參數(shù)
1.輸出額定電壓:可按參數(shù)定制。
2.輸出頻率:0.1Hz、0.05Hz、0.02Hz
3.帶載能力: 0.1Hz ≤1.1µF
0.05Hz ≤2.2µF
0.02Hz ≤5.5µF
4.測(cè)量精度:3%
5.電壓正,負(fù)峰值誤差:≤3%
6.電壓波形失真度:≤5%
7.使用條件:戶內(nèi)、戶外;溫度:-10℃~+40℃;濕度:≤85%RH
8.電源保險(xiǎn)管:參見(jiàn)表1
9.市電源:頻率50Hz,電壓220V±5%。若使用便攜式發(fā)電機(jī)供電,發(fā)電機(jī)要求:頻率50Hz,電壓220V±5%,功率應(yīng)大于3KW,并且在發(fā)電機(jī)的輸出端并聯(lián)一只功率不小于800W的阻性負(fù)載(如電爐),以便穩(wěn)定發(fā)電機(jī)的運(yùn)轉(zhuǎn)速度。否則儀器將不能正常工作。
型 號(hào) | 峰值電壓 | 測(cè)量范圍 | 重 量 | 用 途 |
HDLF-30/1.1
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| 1. 0.1Hz時(shí)≤1.1μF 2. 0.05Hz時(shí)≤2.2μF | |
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| 1. 0.1Hz時(shí)≤1.1μF 2. 0.05Hz時(shí)≤2.2μF |
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| 1. 0.1Hz時(shí)≤1.1μF 2. 0.05Hz時(shí)≤2.2μF 3. 0.02Hz時(shí)≤5.5μF |
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| 1. 0.1Hz時(shí)≤1.1μF 2. 0.05Hz時(shí)≤2.2μF 3. 0.02Hz時(shí)≤5.5μF |
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| 1. 0.1Hz時(shí)≤1.1μF 2. 0.05Hz時(shí)≤2.2μF 3. 0.02Hz時(shí)≤5.5μF | |
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系統(tǒng)中,干擾信號(hào)抑制主要包括硬件和軟件兩個(gè)方面的措施。雖然硬件抑制方法有一定的效果,但是現(xiàn)場(chǎng)干擾會(huì)隨著環(huán)境、設(shè)備負(fù)載以及運(yùn)行方式的改變而改變,硬件抑制方法難以達(dá)到理想的效果。
隨著數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)的發(fā)展,高頻局部放電檢測(cè)中的干擾抑制措施主要依靠軟件實(shí)現(xiàn)。目前常用的數(shù)字化抗干擾方法主要有:脈沖平均法、數(shù)字濾波法、信平頂山超低頻高壓發(fā)生器交流耐壓測(cè)試儀選型號(hào)相關(guān)法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)法以及小波分析法。小波變換是基于非平穩(wěn)信號(hào)的分析手段,在時(shí)域、頻域同時(shí)具有良好的局部化性質(zhì),非常適合于不規(guī)則、瞬變信號(hào)的處理,越來(lái)越多的用于高頻局部放電檢測(cè)的干擾抑制措施中。
對(duì)于放電信號(hào)的區(qū)分,一方面可利用前述的抗干擾技術(shù),將外界干擾噪聲抑制到較小水平,另一方面也可通過(guò)與不同缺陷放電特征數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行對(duì)比,即進(jìn)行放電信號(hào)的模式識(shí)別。模式識(shí)別的主要步驟包括放電信號(hào)的測(cè)量、放電信號(hào)特征提取與分類和特征指紋庫(kù)比對(duì)三個(gè)步驟,從而判斷所測(cè)信號(hào)是否為真實(shí)的放電信號(hào)以及是何種放電。一種模式識(shí)別方法是利用相位統(tǒng)計(jì)譜圖的形狀特點(diǎn),通過(guò)計(jì)算統(tǒng)計(jì)譜圖的偏斜度、陡峭度以及相互關(guān)聯(lián)因素等特征參數(shù),從而對(duì)缺陷類型進(jìn)行確認(rèn)和識(shí)別。另外一種是聚類分析法,該方法主要將放電信號(hào)按其各自的等效頻率、等效時(shí)長(zhǎng)或其它與波形相關(guān)的特征參量進(jìn)行分類,形成時(shí)頻域映射譜圖。時(shí)頻譜圖的特點(diǎn)是多個(gè)放電源、不同放電類型的局部放電脈沖會(huì)被映射到不同聚點(diǎn),這樣便于在局部放電相位譜圖上將真實(shí)放電和噪聲干擾區(qū)分開來(lái)如圖5-8所示。還有一種聚類原理是利用三相同步局部放電檢測(cè)技術(shù),對(duì)耦合到的信號(hào)進(jìn)行幅度、相位或頻率的計(jì)算,從而進(jìn)行分類,如圖5-9所示。
圖5-8 局部放電時(shí)頻映射譜圖[16] 圖5-9 三相局部放電同步檢測(cè)聚類譜圖[28]
(二)放電源的定位
對(duì)于電力電纜運(yùn)行情況下局部放電源的定位,較為簡(jiǎn)單的方法是利用高頻局部放電檢測(cè)傳感器在電纜終端、各個(gè)接頭處分別進(jìn)行局部放電信號(hào)的檢測(cè),通過(guò)對(duì)比分析不同傳感器位置放電信號(hào)的時(shí)域和頻域特征,來(lái)進(jìn)行放電源的大致定位。該方法主要利用的是放電脈沖信平頂山超低頻高壓發(fā)生器交流耐壓測(cè)試儀選型號(hào)在電纜中傳輸衰減原理,隨著放電信號(hào)的傳播,放電信號(hào)幅值減小,上升時(shí)間下降、脈沖寬度變寬,信號(hào)高頻分量嚴(yán)重衰減等,因而可利用這些特點(diǎn)大致判斷出放電源的位置。但值得注意的是該方法較為粗略,精度較低,僅能大致判斷出在哪個(gè)接頭附近或哪兩接頭間存在缺陷。
另一種方法是利用分布式局部放電同步檢測(cè)技術(shù)。該方法與上述方法類似,但不同的是在連續(xù)幾個(gè)接頭處