圓盤式離心沉降粒度儀BI-DCP/BI-XDC是基于經(jīng)典Stokes公式的離心/沉降原理,通過高精度的數(shù)字式電機控制,是迄今為止具有統(tǒng)計意義的粒度儀中分辨率、準確率的測量儀器。是目前NIST認可的高分辨率粒度分析儀,廣泛應用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質量控制方面。
設計精華:圓盤式離心沉降粒度儀
1. 準確可靠的數(shù)字式頻率電機,轉速精度達0.01%;
2. 快速的掃描檢測器,標準的離心檢測時間僅為5-8分鐘;
3. 傳感器對圓盤中的溫度進行實時監(jiān)控;
4. 實用方便的分段監(jiān)測功能:對于寬分布樣品可兩次檢測不同粒級,后通過軟件歸一,提高了檢測效率和檢測范圍;
5. BI-DCP/BI-XDC能夠區(qū)分峰值間隔13%的樣品。
技術參數(shù)及應用領域:
機型BI-DCP
粒度范圍:0.01~45um(與粘度、密度有關)
檢測光源:可見光
操作模式:離心沉降模式
電機轉速:500~15000rpm
應用領域:
1. PS、PVC及其它聚合物 2. 炭黑 3.金 屬氧化物 4.油 墨、氧化鋁、氧化鈦 5. 制藥、化妝品、食品 6. 涂料
機型BI-XDC
粒度范圍:0.01~100um(與粘度、密度有關)
檢測光源:X射線
操作模式:重力沉降模式與離心沉降模式
電機轉速:500~6000rpm,10000rpm可選
應用領域:
1. 陶瓷 2.金屬粉末 3.粘土,礦物 4.無機染料 5.粘合劑