ORTEC于1970’開始制造商品化的N型高純鍺探測器，并在1990’推出*臺有四個N型探測器單元的Clover探測器。基于保有至今的N型探測器的制造優(yōu)勢，ORTEC可在粒子束、同步加速器、天體物理、保健物理和其他核物理應(yīng)用上根據(jù)用戶要求定制各種Clover探測器。
- 全表面的薄接觸極、各探測單元間距緊密（小于1mm），保證在20keV-10MeV能段內(nèi)獲得探測效率
- 同軸型晶體、短的成形時間，從而保證優(yōu)異的分辨率和高的峰本比
- 抗中子損傷和淬火恢復(fù)能力
- 3升或以上*杜瓦；（也可訂制用于固定方位的杜瓦）
- 真空可靠性等同于普通的同軸探測器；
- 便于維護的設(shè)計
Clover探測器的主要意義在于對于狹小空間的探測，其多晶體緊密的結(jié)構(gòu)能獲得比單個晶體探測器更好的效率和更好的陣列式布局。另外，Clover探測器能獲取隨機光子的方位信息。還有，它能夠有效降低采用單晶體探測器時的多普勒展寬效應(yīng)。
主要性能指標(biāo)：
| 4個N型HpGe探測器單元封裝于一體 |
| 20%~80%可選，所有四個探測器保持* |
以下指標(biāo)以四個相對探測效率為25%的N型探測器為參照： | |
| @1.332 MeV峰：≤2.15keV（典型值＜2.0keV） @122 keV峰：≤1.05 keV（典型值＜1.0keV） |
| 20keV~10MeV |
| ＞45:1 |
| 3L*杜瓦（匹配其它形制杜瓦或電制冷請咨詢工廠） |
| 4個前置放大器遠置 |
| 探測器之間間隔＜1mm。（端窗與探測器之間的間距大小取決于要求的端窗倒角角度和晶體單元的大小，一般而言在5mm~30mm） |
| 高純度鋁，可根據(jù)用戶要求訂制其他材料 |
| 1年質(zhì)保，可有償延長質(zhì)保 |
ORTEC提供兩種類別的Clover探測器。一種是相對標(biāo)準(zhǔn)的Clover探測器，其具體尺寸仍可根據(jù)要求在小范圍內(nèi)調(diào)整；另一種則是全據(jù)用戶要求訂制，可定制的選項包括：杜瓦的大小、端窗材料和直徑、端窗倒角角度、封裝長度和脖頸長度等。
