高低溫按鍵壽命試驗箱產(chǎn)品用途:
本機適用于手機、平板電腦、電子詞典、導航儀、計算機鍵盤、汽車DVD/CD、各種遙控器等產(chǎn)品按鍵作高溫老化條件下的耐打擊壽命測試。
高低溫按鍵壽命試驗箱技術參數(shù):
溫度范圍 | -40~+100℃ |
溫度波動度 | ±0.5℃ |
溫度偏差 | ≤1℃ |
溫度均勻度 | ≤2.0℃(-40~+100℃范圍) |
升溫時間 | 從25℃升至100℃ 40分鐘,全程平均非線性,空載 |
降溫時間 | 從20℃降至-40℃ 60分鐘,全程平均非線性,空載 |
可測試區(qū)域 | W450*D450*H500mm |
升降溫過沖 | ≤±2℃ |
箱體大負載 | 箱體承重:50Kg |
高低溫箱滿足 | GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低溫試驗方法 |
氣缸打擊行程 | 30mm |
氣缸耐溫范圍 | 高溫氣缸:室溫~75℃,低溫氣缸:室溫~-40℃ |
打擊測試速度 | 10~120rpm(取決于氣缸伸出時間和縮回時間設定) |
氣缸打擊力 | 150~1500g |
氣缸數(shù)量 | 8pcs(可以增配,費用另計) |
測試計數(shù)設定 | 0~999999可設定 |
高低溫箱尺寸/按 | W1000*D1100*H1500mm/ W650*D400*H1700mm |
高低溫箱重量/按 | (約)250kg/約65kg |
電源 | 1∮,AC220V, 4K |