水冷式高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):
溫度范圍:A:-40~ 150℃;B:-55~ 150℃;C:-65~ 150℃
溫度偏差:±2℃
溫度波動度:±0.5℃。
溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min。
溫度恢復(fù)條件:高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式:采用氣動驅(qū)動。
高溫室儲溫的升溫時(shí)間:30min (+25℃~+200℃)。
低溫室儲溫的降溫時(shí)間:65min (+25℃~-75℃)。
加熱系統(tǒng):鎳鉻合金不銹管加熱器
制冷系統(tǒng):采原裝歐美進(jìn)口率壓縮機(jī)
循環(huán)系統(tǒng):采日制多翼離心式循環(huán)風(fēng)扇
控制系統(tǒng):大屏原裝彩色液晶觸摸屏控制器
內(nèi)箱材質(zhì):SUS#304 不銹鋼板
外箱材質(zhì):SUS#304紗面不銹鋼或冷扎鋼噴塑處理
保溫材質(zhì):硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡+玻璃棉
水冷式高低溫沖擊試驗(yàn)箱本試驗(yàn)箱適用于考核產(chǎn)品(整機(jī))、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。
滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)。