晶閘管測試儀DBC-031概述
本儀器是晶閘管觸發(fā)電壓VGT、觸發(fā)電流IGT和維持電流IH三項(xiàng)參數(shù)的測試設(shè)備。適用于各種反向阻斷晶閘管，逆導(dǎo)晶閘管及雙向晶閘管的參數(shù)測試。本測試儀設(shè)計(jì)*，結(jié)構(gòu)合理，操作簡便。并具有數(shù)字顯示，自動測試等功能。其技術(shù)指標(biāo)符合GB4024-83標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，是電力半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠和使用單位為理想的檢測設(shè)備。
晶閘管測試儀DBC-031技術(shù)參數(shù)
2.1 A(T2)、K(T1)間的斷態(tài)電壓：DC 12V(內(nèi)部限流電阻6.8Ω)。
2.2 觸發(fā)電流、維持電流測量范圍：1-450mA
2.3 觸發(fā)電壓測量范圍：0-7V
2.4 測量時間：小于2S
2.5 工作條件
電源:AC 220V±10% 50HZ
溫度：0-40℃
2.6 整機(jī)功耗：小于75VA
2.7 整機(jī)重量：約10Kg
2.8 整機(jī)尺寸：440×440×150mm
晶閘管測試儀DBC-031結(jié)構(gòu)特征
本儀器為箱式結(jié)構(gòu)，數(shù)字顯示，讀數(shù)直觀方便。前部是面板，裝有控制鍵、數(shù)字顯示表和接線端子等。后蓋板上裝有三芯電源插座和保險絲盒(保險絲為0.5A/250V)。三線電源插頭的地端要可靠接地，以確保測試人員的安全和測試精度。
使用方法
4.1 面板說明(參見面板圖)
4.1.1 “電源”開關(guān)
此開關(guān)擲向開時，內(nèi)藏指示燈亮，電源接通。
4.1.2 “A(T2)、K(T1)、G”接線端子
被測器件接線端子
4.1.3 “mA”電流顯示表
顯示被測器件的觸發(fā)(維持)電流，單位毫安。
4.1.4 “V”電壓顯示表
顯示被測器件的觸發(fā)電壓，單位伏特。
4.1.5“IGⅠ+”觸發(fā)象限選擇鍵
按動此鍵，內(nèi)藏指示燈亮，主回路A(T2)接正、K(T1)接負(fù)、G接正，儀器處于觸發(fā)電流待測狀態(tài)。
4.1.6 “IGⅠ-”觸發(fā)象限選擇鍵
按動此鍵，內(nèi)藏指示燈亮，主回路A(T2)接正、K(T1)接負(fù)、G接負(fù)，儀器處于觸發(fā)電流待測狀態(tài)。
4.1.7 “IGⅢ-”觸發(fā)象限選擇鍵
按動此鍵，內(nèi)藏指示燈亮，主回路A(T2)接負(fù)、K(T1)接正、G接負(fù)，儀器處于觸發(fā)電流待測狀態(tài)。
4.1.8 “IH”功能選擇鍵
按動此鍵，內(nèi)藏指示燈亮，“mA”電流顯示表顯示大于“450”的某一數(shù)值，儀器處于維持電流待測狀態(tài)。
4.1.9 “復(fù)位”鍵
按動此鍵，在觸發(fā)參數(shù)待測狀態(tài)下，“mA”電流和“V”電壓顯示表顯示零。在維持電流待測狀態(tài)下，“mA”電流表顯示大于“450”的某一數(shù)值，“V”電壓表顯示的數(shù)值無意義。
4.1.10 “測試”鍵
按動此鍵，儀器開始根據(jù)功能選擇鍵所處的狀態(tài)，自動進(jìn)行相應(yīng)的測試。測試過程中，測試鍵內(nèi)藏指示燈亮，測完后，指示燈自動熄滅。
4.2 電源線連接
三線電源插頭的地端要可靠接地，以確保測試人員的安全和測試精度。
4.3 測試步驟
4.3.1 打開“電源”開關(guān)。
4.3.2 將被測器件接在“A、K、G”接線端子上。
4.3.3 選擇“IGⅠ+”、“IGⅠ-”、“IGⅢ-”觸發(fā)象限功能鍵或“IH”維持電流功能鍵。
測試普通、快速晶閘管選擇“IGⅠ+”，測試KS雙向晶閘管分別選擇“IGⅠ+”、“IG Ⅰ-”、“IG Ⅲ-”，測試維持電流選擇“IH”。
4.3.4 按動“復(fù)位”鍵
如儀器處于觸發(fā)參數(shù)待測狀態(tài)，電流、電壓顯示表回零。如儀器處于維持電流待測狀態(tài)，電流顯示表顯示“450”mA左右的某一數(shù)值。
4.3.5 按動“測試”鍵
測觸發(fā)參數(shù)時，電流表和電壓表顯示的數(shù)字由小到大變化，測完自動停止變化；測維持電流時，電流表顯示數(shù)字由大到小變化，測完自動停止。測試過程中“測試”鍵內(nèi)藏指示燈亮，測完后指示燈自動熄滅。此時穩(wěn)定的顯示值即為測量讀數(shù)。(注：測維持電流時，電壓表顯示的數(shù)值無意義。整個測試過程在2秒內(nèi)完成)。
4.3.6 更換被測器件后，按4.3.3-4.3.5條操作即可。
注：對同一器件進(jìn)行多次重復(fù)測試，測試過程由于被測器件發(fā)熱，參數(shù)會有所變化，測試中應(yīng)注意。
