總體描述：
   蔡司推出的裂變徑跡顯微分析系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)智能自動(dòng)化操作，對(duì)兩個(gè)樣本對(duì)應(yīng)區(qū)域進(jìn)行自動(dòng)鏡像精準(zhǔn)定位、對(duì)比統(tǒng)計(jì)；能自動(dòng)完成礦物顆粒分析、徑跡數(shù)目統(tǒng)計(jì)、測(cè)量徑跡與C軸角度、測(cè)量Dpar、Dper值，依據(jù)自發(fā)徑跡密度和誘發(fā)徑跡密度計(jì)算裂變徑跡表觀年齡。系統(tǒng)還可為客戶提供巖礦分析等其他研究工作。


裂變徑跡顯微分析系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆優(yōu)化的操作理念
◆擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學(xué)系統(tǒng)
        ◆全自動(dòng)Z軸自動(dòng)聚焦模塊
◆保證較大穩(wěn)定性和免振動(dòng)工作的創(chuàng)新設(shè)計(jì)
◆統(tǒng)計(jì)輻照單礦物的裂變徑跡數(shù)，分析計(jì)算礦物表觀年齡，并模擬地質(zhì)體熱演化歷史


技術(shù)參數(shù)
硬件光學(xué)系統(tǒng)：ICCS光學(xué)系統(tǒng)
1、 專業(yè)分析物鏡：5X、10X、20X、50X、100X 
2、 自動(dòng)掃描臺(tái)：行程130X85mm，步距為 0.1μm，重復(fù)精度小于1.0μm
3、 變倍轉(zhuǎn)換器：1.25X,1.6X
4、 圖像采集：彩色數(shù)碼冷CCD:500萬(wàn)像素，信實(shí)時(shí)采集，同步捕捉圖像，傳輸速度快，同時(shí)顯示。
5、 分析系統(tǒng)：自動(dòng)識(shí)別待測(cè)對(duì)象，自動(dòng)定位及查找功能，自動(dòng)完成顆粒數(shù)目統(tǒng)計(jì)、測(cè)量徑跡與C軸角度、能測(cè)量Dpar、Dper值等。所有的測(cè)試及結(jié)果（圖片、表格、報(bào)告）均自動(dòng)保存至數(shù)據(jù)庫(kù)，可隨時(shí)調(diào)用并返回當(dāng)時(shí)的測(cè)量參數(shù)，保證可追溯測(cè)定結(jié)果；
用途：
礦物中所含微量鈾的自發(fā)裂變的衰變引起晶格的損傷產(chǎn)生徑跡，測(cè)定礦物的鈾含量和自發(fā)裂變徑跡密度、數(shù)量和長(zhǎng)度、角度，可以確定礦物的年齡。此法用樣量少，可用樣品種類多，測(cè)年范圍可由數(shù)年到幾十億年，特別是在5萬(wàn)～100MA年期間內(nèi)，測(cè)年效果較其他方法為好，是第四紀(jì)地質(zhì)年代測(cè)定的重要方法之一。 


組成：
蔡司全自動(dòng)科研級(jí)顯微鏡
蔡司Axio vision強(qiáng)大分析軟件
  
自動(dòng)掃描平臺(tái)                      Relocation功能
自動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器                    ManualMeasure功能
自動(dòng)模塊盒                        AutoMeasure功能
自動(dòng)光強(qiáng)控制管理                
應(yīng)用：
礦物中所含微量鈾的自發(fā)裂變的衰變引起晶格的損傷產(chǎn)生徑跡，測(cè)定礦物的鈾含量和自發(fā)裂變徑跡密度、數(shù)量和長(zhǎng)度、角度，可以確定礦物的年齡。此法用樣量少，可用樣品種類多，測(cè)年范圍可由數(shù)年到幾十億年，特別是在5萬(wàn)～100MA年期間內(nèi)，測(cè)年效果較其他方法為好，是第四紀(jì)地質(zhì)年代測(cè)定的重要方法之一。
其中，統(tǒng)計(jì)受熱中子照射的磷灰石、鋯石等單礦物的裂變徑跡數(shù)，可計(jì)算地質(zhì)體的退火年齡；測(cè)量自發(fā)裂變徑跡長(zhǎng)度，統(tǒng)計(jì)裂變徑跡長(zhǎng)度分布，可計(jì)算地質(zhì)體熱演化歷史；并用于觀察透明或不透明礦物、巖石、包裹體的結(jié)構(gòu)等巖相學(xué)特征。


原理：
1.理論依據(jù)
根據(jù)礦物中 U、Th放射性同位素自發(fā)裂變碎片的徑跡而計(jì)時(shí)的一種方法。徑跡數(shù)目與礦物年齡成正比。礦物中能產(chǎn)生裂變徑跡的重核有 238U、235U和232Th。它們的自發(fā)裂變半衰期分別是 1.01×1016年、3.5×1017年和大于1021年。所以天然樣品中238U的裂徑跡約占99.97%以上，而235U和232Th的裂變徑跡在年齡測(cè)定中可忽略不計(jì)。 若假定自發(fā)裂變徑跡在礦物中的分布是均勻的，則單位體積內(nèi)的裂變徑跡數(shù)目(C)與U含量、礦物存在時(shí)間及U的自發(fā)裂變常數(shù)成如下關(guān)系

式中238U為每立方厘米樣品中238U的原子數(shù),λf為238U的自發(fā)裂變常數(shù)（6.85×10-17/年），λ為U的總衰變常數(shù),t為礦物年齡。 自然狀態(tài)的裂變徑跡非常細(xì)小。通過(guò)選擇適當(dāng)?shù)幕瘜W(xué)試劑在一定條件下對(duì)礦物磨光面進(jìn)行腐蝕處理(蝕刻)，蝕刻后的徑跡,在顯微鏡下可放大到200～1000倍。若自發(fā)裂變徑跡和誘發(fā)裂變徑跡（即通過(guò)熱中子照射產(chǎn)生的徑跡）的蝕刻條件*相同，則裂變徑跡法計(jì)算年齡的公式為

式中ρs為在蝕刻表面觀察到的徑跡密度,ρi為蝕刻后看到的誘發(fā)裂變徑跡密度,σ 為235U的熱中子誘發(fā)裂變截面(582×10-24平方厘米),Φ為熱中子劑量，I=238U/235U=137.88。 應(yīng)用此公式計(jì)算年齡時(shí)須滿足下列要求：①自發(fā)裂變的半衰期是恒定的；②238U/235U比值是一個(gè)常數(shù);③所有的自發(fā)裂變徑跡是238U產(chǎn)生的,而所有的誘發(fā)裂變徑跡都是235U經(jīng)熱中子照射誘發(fā)產(chǎn)生的;④自發(fā)裂變徑跡和誘發(fā)裂變徑跡的蝕刻條件相同；⑤樣品形成以后保持封閉體系。 裂變徑跡法測(cè)定年齡的樣品適應(yīng)性廣，只要樣品中產(chǎn)生的自發(fā)裂變徑跡密度大于1～10／平方厘米,均可選用。如磷灰石、榍石、鋯石、白云母等。


2.解決方案
（1）ZEISS顯微鏡所配的AxioVision軟件具有強(qiáng)大的圖像拍攝和處理功能，可完成裂變徑跡顯微鏡鏡下圖片拍攝。
（2）AxioVision軟件模塊中的FissionTrack模塊，專為裂變徑跡應(yīng)用開發(fā)，可滿足裂變徑跡測(cè)量的各種需求。該模塊包含三大功能：
1. 針對(duì)互為鏡像樣品定位和查找問(wèn)題，Relocation功能可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的樣品鏡像定位。
2. 針對(duì)裂變徑跡長(zhǎng)度、角度等數(shù)據(jù)的測(cè)量問(wèn)題，ManualMeasure功能實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單高效的在線測(cè)量功能，并自動(dòng)將測(cè)量數(shù)據(jù)按照格式，導(dǎo)出為EXCEL表格。
3. 針對(duì)裂變徑跡顆粒數(shù)量、面積等數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)問(wèn)題，AutoMeasure功能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的統(tǒng)計(jì)，包含數(shù)十項(xiàng)可選的顆粒數(shù)據(jù)描述。