| 精密LCR測試儀/數(shù)字電橋 型號：VSN/AT-2816B | 貨號：ZH5342 |
| 產(chǎn)品簡介: 采用了真彩液晶顯示，可配置的中英文操作菜單，使用的儀器實時操作系統(tǒng) ATOS2009，菜單軟鍵操作，數(shù)字鍵盤，儀器操作簡單。 實現(xiàn)主副四參數(shù)6位顯示，可掃描10種頻率，還可對3組用戶頻率進(jìn)行校正，提高準(zhǔn)確度。 自動測試、人為參與，您只需插入L、C或是R，儀器自動為您配置成測試條件，這些包括：自動LCR選擇，自動量程選擇和等效方式選擇。 儀器提供33個基本頻率，覆蓋從50Hz～200kHz；0.01V至2.00V的電平；Z大256次平均，14檔分選結(jié)果輸出。 我們?yōu)樽詣訙y試設(shè)備提供了Z完備的接口：自動觸發(fā)、手動觸發(fā)、外部觸發(fā)和總線觸發(fā)模式，14檔分選輸出，內(nèi)置檔計數(shù)功能。 支持10組文件操作，可對用戶設(shè)置的分選設(shè)置列表、掃描設(shè)置列表以及相關(guān)用戶設(shè)置進(jìn)行保存。 兼容SCPI的RS232C接口，支持Z高115200波特率，可通過計算機快捷的控制儀器功能，能通過客戶端軟件的設(shè)計完成數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析和打印測試結(jié)果等功能。 規(guī)格: 測試主副參數(shù)：Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,G-B,R-X,Z-θrad,Z-θdeg 測試監(jiān)視參數(shù):Z,D,Q,θr,θd,R,X,G,B,Y,Vac,Iac,Δ,Δ% 測試頻率：50Hz~200kHz (37點) 頻點：50Hz，60Hz，80Hz，100Hz，120Hz，150Hz，200Hz，250Hz，300Hz，400Hz，500Hz，600Hz，800Hz，1kHz，1.2kHz，1.5kHz，2kHz，2.5kHz，3kHz，4kHz，5kHz，6kHz，8kHz，10kHz，12kHz，15kHz，20kHz，25kHz，30kHz，40kHz，50kHz，60kHz，80kHz，100kHz，120kHz，150kHz，200kHz 基本準(zhǔn)確度：0.1% 測試電平：0.01V~2.00V 以10mV步進(jìn) 測試速度：3次/秒，6次/秒,10次/秒，30次/秒 主參數(shù)6位，副參數(shù)6位顯示，監(jiān)視參數(shù)6位顯示 L: 0.0001μH - 999999H C: 0.0001pF - 999999μF R,Z: 0.0001Ω - 99.9999MΩ? D,Q: 0.00001 - 999999 θ(deg): -90.0000°- 90.0000°? θ(rad): -3.14159 – 3.14159 Δ%: -999.999% - 999.999% 輸出阻抗：30Ω, 50Ω和100Ω 等效電路：串聯(lián), 并聯(lián) 自動測試：量程自動，等效電路自動，參數(shù)自動。 性能特征: 真彩16M色，TFT-LCD顯示。 校正功能：量程程開路和短路掃頻清零,三組用戶點頻校準(zhǔn)。 多頻測試：支持10個頻率掃描測試 10組文件管理，可完存儲儀器狀態(tài),列表掃描設(shè)置和比較器設(shè)置。 增強型比較器（分選）功能：可編程的P1~P9 九檔分選，主參數(shù)HI,IN,LO顯示和輸出，NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等顯示及輸出。 偏差（ABS）比較方式、相對偏差（PER）和順序（SEQ）比較方式。 可開關(guān)的附屬檔（AUX）分選。 可編程1～200次平均次數(shù)，提供穩(wěn)定性。 自定義分選結(jié)果訊響。 內(nèi)置RS232C接口和Handler接口。 1000V沖擊保護(hù) |  |
