CL5超聲波測(cè)厚儀影響因素
CL5是一個(gè)質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)量工具，可用于各種工業(yè)，但主要用于汽車、航空和航天工業(yè)。它可以用于抽檢來料厚度，如鋼圈，也可以通過中間和后期測(cè)量，來監(jiān)測(cè)機(jī)械加工過程。同時(shí)，它還可以用于塑料部件的精密厚度測(cè)量。
CL5超聲波測(cè)厚儀影響因素
影響超聲波測(cè)厚儀的指標(biāo)因素：
- 檢測(cè)面與底面不平行，聲波遇到底面產(chǎn)生散射，探頭無法接受到底波信號(hào)。
- 工件曲率半徑太小，尤其是小徑管測(cè)厚時(shí)，因常用探頭表面為平面，與曲面接觸為點(diǎn)接觸或線接觸，聲強(qiáng)透射率低（耦合不好）。
- 超聲波測(cè)厚儀所測(cè)工件表面粗糙度過大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無法接收到回波信號(hào)。
- 鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大，在其中穿過時(shí)產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減，被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播，有可能使回波湮沒，造成不顯示。
- 探頭接觸面有一定磨損。
- 溫度的影響。
- 層疊材料、復(fù)合（非均質(zhì)）材料。
- 金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。
聲速測(cè)量選件：CL5 VL
可測(cè)定聲波穿過鑄件、合金或者塑料時(shí)的速度，得出所測(cè)材料內(nèi)部組織是否緊密無缺陷。 如可預(yù)先將球墨鑄鐵不同球化率百分比(通過金相法)試樣做出，分別測(cè)量其不同的聲速值，對(duì)鑄件進(jìn)行批量檢查。
實(shí)時(shí)A掃描選件：CL5 AS
可選實(shí)時(shí)A掃描功能使得用戶可以實(shí)時(shí)觀察CL 5正在以數(shù)字方式測(cè)量的回波。觀察實(shí)時(shí)A掃描可以幫助用戶正確調(diào)整探頭和測(cè)試件，從而獲得zui測(cè)量值。用戶通過觀察實(shí)時(shí)A掃描可以確保測(cè)量的是正確的回波并且數(shù)字值也是正確的。
數(shù)據(jù)記錄器選件：CL5 DR
利用數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)可以快捷地以文件形式存儲(chǔ)厚度值。用戶可*編程的數(shù)據(jù)記錄器zui多可以存儲(chǔ)10000個(gè)測(cè)量值或者500個(gè)帶A掃描的值。可編程數(shù)據(jù)記錄器可以直接從CL 5鍵盤創(chuàng)建數(shù)據(jù)記錄器文件， 或者利用靈活的UltraMAite或UltraMATE軟件程序通過電腦創(chuàng)建。數(shù)據(jù)記錄器支持字母數(shù)字文件名、標(biāo)準(zhǔn)線性和網(wǎng)格文件以及自定義線性文件。
擴(kuò)充了的文件類型存儲(chǔ)每一測(cè)量點(diǎn)的厚度值、聲速設(shè)置以及其它關(guān)鍵數(shù)據(jù)。CL5 和 UltraMATE一起構(gòu)成了*的測(cè)試數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)。
CL5是一個(gè)質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)量工具，可用于各種工業(yè)，但主要用于汽車、航空和航天工業(yè)。它可以用于抽檢來料厚度，如鋼圈，也可以通過中間和后期測(cè)量，來監(jiān)測(cè)機(jī)械加工過程。同時(shí)，它還可以用于塑料部件的精密厚度測(cè)量。CL5兼容各種類型的接觸式探頭和延遲塊探頭，使用延遲塊探頭對(duì)薄壁部件進(jìn)行測(cè)厚時(shí)，延遲自動(dòng)測(cè)量模式將自動(dòng)從接觸面回波轉(zhuǎn)為底面回波，再轉(zhuǎn)為多回波測(cè)量。
