回收HP4284A/LCR測(cè)試儀
備注；*高價(jià)回收安捷倫、美國(guó)泰克、美國(guó)福祿克、艾法斯、日本菊水、北京普源、中國(guó)臺(tái)灣固緯、德國(guó)惠美、美國(guó)吉時(shí)利、摩托羅拉、美國(guó)力科、美國(guó)韋夫特克、德國(guó)羅德施瓦茨、英國(guó)馬可尼、英國(guó)施倫伯杰、日本安立（安利）、日本愛(ài)德萬(wàn)。
回收HP4284A/LCR測(cè)試儀
- 品牌: 安捷倫Agilent
- 貨號(hào): 4284A
- 裝修及施工內(nèi)容: 電子測(cè)量
Agilent 4284A HP4284A LCR測(cè)試儀 數(shù)字電橋 20Hz至1MHz
品牌: 安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP
·20Hz-1MH*有8600個(gè)以上的測(cè)試頻率
·0.05%的基本精度，6位數(shù)字分辨
Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過(guò)提供精確、高吞吐量的測(cè)試方法來(lái)改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合zui通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)（電工委員會(huì)或美國(guó)**標(biāo)準(zhǔn)），且工作在模擬所使用的工作條件下。無(wú)論在研究開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。
回收HP4284A/LCR測(cè)試儀
技術(shù)指標(biāo)
| 被測(cè)參數(shù) | |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差 | ||||||||||||||||||
| 測(cè)量電路模式 | 串聯(lián)和并聯(lián) | ||||||||||||||||||
| 量程轉(zhuǎn)換 | 自動(dòng)和手動(dòng) | ||||||||||||||||||
| 觸發(fā) | 內(nèi)部、外部和總線（HP-IB） | ||||||||||||||||||
| 延遲時(shí)間 | 0-60.00s以1ms步進(jìn) | ||||||||||||||||||
| 測(cè)量終端 | 四端對(duì) | ||||||||||||||||||
| 測(cè)試電纜長(zhǎng)度 | 標(biāo)準(zhǔn)：0和1m；帶選件006時(shí)：0、1、2和4m | ||||||||||||||||||
| 積分時(shí)間： | 短、中等和長(zhǎng) | ||||||||||||||||||
| 取平均： | 1-256可程控 | ||||||||||||||||||
| 測(cè)試信號(hào)： | 20Hz-1MHz±0.01%8610個(gè)可選擇頻率 | ||||||||||||||||||
| 測(cè)試信號(hào)方式： | |||||||||||||||||||
| 標(biāo)準(zhǔn)： | 分別在開(kāi)路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程 | ||||||||||||||||||
| 恒定： | 維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無(wú)關(guān) | ||||||||||||||||||
| 測(cè)試信號(hào)： |
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| 直流偏置： | 標(biāo)準(zhǔn)：0V，1.5V和2V 選件：0V-±40V | ||||||||||||||||||
| 測(cè)量顯示范圍 |
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| 基本測(cè)量精度 |
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| 補(bǔ)充特性： | |||||||||||||||||||
| 測(cè)量時(shí)間： | 從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間 | ||||||||||||||||||
| 短 | 40ms | ||||||||||||||||||
| 中等 | 190ms | ||||||||||||||||||
| 長(zhǎng) | 830ms | ||||||||||||||||||
| 選件001直流偏流輸出 | 100mA max | ||||||||||||||||||
| 顯示器： | |||||||||||||||||||
| LCD點(diǎn)陣顯示： | 顯示被測(cè)值，控制設(shè)置，比較極限和判決，列表掃描表，自測(cè)試信息和信號(hào)指示 | ||||||||||||||||||
| 修正功能 | 開(kāi)路/短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 | ||||||||||||||||||
| 接負(fù)載： | 利用已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量精度 | ||||||||||||||||||
| 列表掃描功能 | zui多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)電平編程?？蛇M(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試，當(dāng)安裝上選件001時(shí)，還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試 | ||||||||||||||||||
| 比較器 | 10倉(cāng)室（ten-bin)分類用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于一次測(cè)量參數(shù) | ||||||||||||||||||
| 倉(cāng)室計(jì)數(shù)： | 0-999999 | ||||||||||||||||||
| 列表掃描比較器： | 高/符合/低判定輸出用于列表掃描表中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn) | ||||||||||||||||||
| 其它功能： | |||||||||||||||||||
| 存儲(chǔ)/加載： | 10個(gè)儀器設(shè)置可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器存儲(chǔ)/加載。10個(gè)附加設(shè)置還能由一個(gè)儲(chǔ)存卡存儲(chǔ)/加載 | ||||||||||||||||||
| HP-IB | 所有儀器控制設(shè)置，被測(cè)值，比較極限，列表掃描表和自測(cè)試結(jié)果 | ||||||||||||||||||
| 存儲(chǔ)器： | 存儲(chǔ)緩存器能存儲(chǔ)zui多128個(gè)測(cè)量結(jié)果，并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù)，ASCII和64位二進(jìn)制數(shù)據(jù)格式 |
