CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。
行業(yè)
用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,LED支架,五金電鍍,連接器等……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量。
CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業(yè)生產(chǎn)廠家優(yōu)勢:
杰出的*穩(wěn)定性:
·自動熱補(bǔ)償測量儀器溫度,糾正變化,提供穩(wěn)定的結(jié)果
·簡單快速的光譜校準(zhǔn),定期檢查儀器性能(如靈敏度),并提供必要的糾正
堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)
·可以在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上操作
·堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì)
·經(jīng)行業(yè)驗(yàn)證的技術(shù),在銷售量超過3000臺
有效調(diào)整生產(chǎn)過程,從而提高生產(chǎn)力
·確保元件可靠性
·優(yōu)化質(zhì)量控制,從而確保產(chǎn)品生命周期
·測量焊料合金成份和鍍層厚度
·分析導(dǎo)電性鍍層金和鈀的厚度
·測量電腦硬盤上的NiP層厚度
電鍍處理的成本zui小化,產(chǎn)量zui大化
·快速簡單的分析
·同時(shí)進(jìn)行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析
·zui多可分析4層(不包括基層)
·鍍液成份分析
珠寶及其他合金的快速無損分析
·貴金屬合金分析
·黃金純度分析
·材料鑒定
CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業(yè)生產(chǎn)廠家樣品種類:
鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍:Ti22 – U92
可同時(shí)測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測,如Au karat評價(jià)
材料和合金元素分析,
材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量
多達(dá)4個樣品的光譜同時(shí)顯示和比較
元素光譜定性分析
CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業(yè)生產(chǎn)廠家使用方法:
儀器裝上電池后,按下“ON/OFF”按鍵開機(jī),等蜂鳴聲響后,液晶顯示屏上顯示"0"時(shí),儀器自動進(jìn)入測量狀態(tài),直接將測頭垂直并快速緊壓到工件表面的涂鍍層上,儀器通過測頭自動測量出涂層厚度,并通過顯示屏把厚度值顯示出來(注意:測量時(shí)注意測頭保持垂直)
CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業(yè)生產(chǎn)廠家功能技術(shù)參數(shù):
測試模式:儀器默認(rèn)為連續(xù)(CONT INUE)測量模式,因?yàn)檫B續(xù)測試更能減少手誤操作誤差,這性能技術(shù)高于一般同行的涂層測厚儀水平,一般的涂層測厚儀只有單次測試模式,東儒DR系列測厚儀都可以調(diào)節(jié)連續(xù)測試和單次(SINGLE)測量方式。
統(tǒng)計(jì)功能:一般涂層測厚儀需要手工操作記錄數(shù)據(jù),然后計(jì)算平均值等,東儒涂層測厚儀設(shè)置了自動求取zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、平均值(MEA)、測量次數(shù)(No)四個統(tǒng)計(jì)功能,更便捷,簡單,方便。
存儲功能:這是區(qū)別于一般涂層測厚儀的分界線,DR260/270/280測厚儀可存貯800多個測量數(shù)據(jù),連接電腦導(dǎo)出數(shù)據(jù)*保存,打印存檔,留住輝煌成就,更具*性。
測量范圍:0-1250/3000μm(超過1250μm要提前告知廠家另行定制)
使用環(huán)境:溫度:0℃-50℃,濕度:20%RH—90%RH,無強(qiáng)磁場環(huán)境下使用
分辨率:0.1μm /1μm(100μm以下為0.1μm,100μ以上為1μm)
zui薄基體:0.4mm
測量精度:±(1%-3%) 1.5μm
外形尺寸:130mm*70mm*24mm
電源:三節(jié)(7號)堿性電池
重量:100g
特點(diǎn):小體積,重量輕,便攜,現(xiàn)場測量,可以用于實(shí)驗(yàn)室內(nèi),電子數(shù)顯,大液晶顯示屏,背光,連續(xù)測試,統(tǒng)計(jì)功能等。
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