冷熱干濕試驗箱技術(shù)指標(biāo)
1.內(nèi)箱尺寸:500mm(W)×600mm(H)×500mm(D)
2.外箱尺寸:以實際尺寸為準(zhǔn))
3.溫度范圍:-40∽150℃；
4.濕度范圍:20%∽98%RH（詳見溫濕度范圍示意圖）
5.溫度波動度：≤±0.3℃
6.溫度偏差:≤±2℃
7.濕度度偏差: ±2%RH(濕度>75%RH時);±3%RH(濕度≤75%RH時);
8.升溫時間:RT∽+100℃ 40分鐘以內(nèi);（空載情況下）
9.降溫時間:RT∽ -40℃ 60分鐘以內(nèi);（空載情況下）
10.本設(shè)備不能放置含有易燃﹑易爆或會產(chǎn)生揮發(fā)﹑腐蝕性氣體的物品進行試驗或存儲.
注:以上指標(biāo)均是在室溫為+25℃,無試樣條件下測得的數(shù)值.

冷熱干濕試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1、GB/T2423.2 低溫試驗標(biāo)準(zhǔn)；
GB/T11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件；
 GJB150.3(MIL-STD-810D) 高溫試驗方法；
GJB150.4(MIL-STD-810D) 低溫試驗方法；
GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則

冷熱干濕試驗箱控制系統(tǒng):  
控制器: 進口微電腦溫濕度集成控制器
精度范圍: 設(shè)定精度:溫度±0.1℃、濕度±1%R.H,指示精度：溫度±0.1℃、濕度±1%R.H
溫濕度傳感器: 鉑金電阻PT100Ω/mV
加熱系統(tǒng): 全獨立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器
加濕系統(tǒng): 外置隔離式，全不銹鋼淺表面蒸發(fā)式加濕器
除濕系統(tǒng): 采用蒸發(fā)器盤管露點溫度層流接觸除濕方式 供水系統(tǒng): 加濕供水采用自動控制.且可回收余水.節(jié)水降耗
制冷系統(tǒng): 全封閉風(fēng)冷單機壓縮制冷方式、原裝法國“泰康”、全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式
循環(huán)系統(tǒng): 耐高溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風(fēng)輪
安全保護: 低溫恒溫恒濕試驗箱具有漏電、短路、超溫、缺水、電機過熱、過電流保護/控制器停電記憶之功能