Advantest Q8344A 光譜分析儀

Advantest Q8344A 光譜分析儀

Q8344A是具有0.35到1.75μm的寬波長范圍的光譜分析儀。

在傅立葉光譜系統(tǒng)中,邁克爾遜干涉儀的應用使單色器的離散光譜系統(tǒng)所不能進行的連續(xù)分析成為可能。它顯示了評估CD和視頻光盤的激光二極管的能力。

作為參考波長的內置HE-NE激光器可以識別±0.1nm(1.3nm) 的波長精度，甚至在不經(jīng)過波長校準的情況下也可以保證*的測量穩(wěn)定性。

Q8344A提供了zui大0.05nm(在0.85μm)的波長分辨率，適合于測量窄模式間隔的激光二極管。不論分析的跨度多少，測量速度進約為1.5秒（在0.4μm到1.05μm和0.8μm到1.75μm），使它可以作為系統(tǒng)一部分。

Q8344A具有全面的顯示、分析和處理功能，它可以對諸如激光二極管和LED之類的光發(fā)射元件以及光纖和濾波器光元件進行特性測量。

連續(xù)測量

由于Q8344A使用了邁克爾遜干涉儀，它可以進行連續(xù)測量。這項功能使它可以輕松地對視頻光盤的激光二極管的回光所引起的噪聲抑制進行評估，分析范圍大約為±10mm。

1.5秒/掃描的高速測量

Q8344A采用傅立葉頻譜系統(tǒng)，因而對任何的測量跨度和靈敏度都可以在1.5秒內完成測量。(提供起始波長是0.4μm或更長并 且測量不能同時覆蓋短的波長和長波長)。因此，分析儀適合于測量生產(chǎn)線上的激光二極管和LED，并且可以評估光纖和濾波器的傳輸和損耗的特征。

當作為系統(tǒng)組成部分時，分析儀只需要1.5秒就可以完成觸發(fā)，測量和數(shù)據(jù)輸出。

0.05nm的zui大波長范圍

在短波長(0.85μm)時Q8344A提供0.05nm的zui大分辨率，使它可以以全分解振蕩模式依次對CD和可視光激光二極管進行測量。

大量規(guī)光纖輸出（選件）

200μm大量輸出可以作為選件使用。當分析波長大于標準光纖量規(guī)(GI50μm)的裝置時，可選用此選件。對激光二極管分析，*標準50-μm規(guī)格，對LED分析，*選用規(guī)格。

標準附件

產(chǎn)品名稱 類型 描述

功率電纜 A01402 1

打印機紙 A09075 5卷(包括在選件01中)

選件

選件01：內置打印機 顯示器上所顯示的數(shù)據(jù)硬拷貝

打印系統(tǒng)：熱敏式打印行點系統(tǒng)

打印速度：8秒或者更少

記錄紙：A09075

紙寬：114nm

選件10：200μm光纖輸入(訂購是請確認)

一般指標：

工作環(huán)境：

溫度：-10~+40℃濕度85%RH或更小(不需要冷凝)

存儲環(huán)境：

溫度：-10~+50℃，濕度：90%RH或更少(不需要冷凝）

電源要求： 198~250VAC，48~66Hz,180VA或更少

尺寸：近似424mm(寬)×221mm(高)×550mm(長)

質量：zui大27kg(包括打印機選件)