晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80
- 產品簡介
- /晶振測試儀,晶體阻抗計GDS-80是高性價比的晶振測試系統(tǒng),采用微處理器技術,實現(xiàn)智能化測量,符合IEC-444標準。測量頻率范圍20KHz-100MHz,附RS-232接口進行數(shù)據(jù)通迅。
- /晶振測試儀,晶體阻抗計GDS-80采用π型網絡零相位法實現(xiàn)等精度測量。它測量精度高,速度快;具有串聯(lián)諧振頻率、負載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測量,可保存5個不同晶振頻率和負載電容參數(shù),負載電容在2-20P范圍內任意編程設置,從滿足不同負載電容的晶振測試,智能運算克服了市場上晶體阻抗計阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點、解除了手工校對的麻煩,讓晶振測試變得更輕松。
- 主要技術指標
- 中心頻率范圍: 20KHz-100MHz任意設定
- 負載電容:4-20P 任意設定
- 負載諧振電阻:1Ω-300Ω 1K-300K
- PPm范圍測量:±300ppm
- PPm測量精度:< 0.5ppm
- 時基頻率:16.384M
- 晶振穩(wěn)定性:2×10-8 /日
- 體積:80×235×305(mm)
- 保修期:三年
- 特點
- 阻抗值、ppm同時顯示
- 無需人工校對,直接測試多種參數(shù)
- 新技術,符合IEC-444標準,滿足國人需求,可替代進口設備
- LCD顯示
- PPm超標提示功能
- 儀器配置
- 1臺
- 電源線 1根
- 保修卡一張
- 說明書 1份