X射線衍射儀工作原理：

    XRD即X射線衍射（X-ray diffraction）。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)。晶體結(jié)構(gòu)可通過點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)表征出來。使用X射線，在一定條件下照射被測樣品，可產(chǎn)生相干的散射（衍射）信號，經(jīng)分析后可獲取晶體的結(jié)構(gòu)參數(shù)，還可進(jìn)而推斷樣品的物相組成、含量，以至晶粒尺寸、結(jié)晶度等其他多種結(jié)構(gòu)相關(guān)信息。

    實(shí)驗(yàn)室設(shè)備介紹及樣品要求：

    本實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有兩臺套X射線衍射儀（理學(xué)DMAX RAPID II、布魯克D8 Advance），測試對象可以是微量粉末（＞0.001g，＞200目）、常量粉末（＞0.2g，＞320目）、固體碎屑微粒（粒徑0.03至1mm，用透射法）、塊狀顆粒（粒徑＜1cm，有平整表面，用反射法）、粘土滴片（26*26mm光面載玻片）、巖石薄片（光學(xué)片、電鏡片、注膠拋光顆粒等，用反射法）。

    理學(xué)DMAX RAPID II系統(tǒng)：

    光源：5.4kW（Cu、Mo可切換）轉(zhuǎn)靶點(diǎn)光源；窗口束斑直徑約1mm；可約束束斑直徑至0.03mm、0.05mm、0.1mm、0.3mm、0.8mm

    測角臺（樣品臺）：雙轉(zhuǎn)軸（Omega、Phi）單平移軸（Z）基臺，配雙平移軸（X、Y）手動或自動樣品架基座，可換裝毛細(xì)管用變溫樣品架（室溫至400℃）

    探測器：桶形固定式面探測器，衍射角（2θ）測量范圍（-45°，165°），方位角（β）測量范圍（2θ＜45°時(shí)β360°全域可測。

    設(shè)備用途：1、微量粉末測試；2、微粒測試；3、原位微區(qū)測試（塊體、薄片）；4、高溫反應(yīng)實(shí)時(shí)測試

    布魯克D8 Advance系統(tǒng)

    光源：3kW（工作功率1.6kW）Cu靶線光源。

    光路：電控自適應(yīng)狹縫系統(tǒng)，可在掃描過程中自動調(diào)整入射線端、樣品臺和衍射線端多種狹縫開口（不包括索拉狹縫）。

    測角臺（樣品臺）：樣品臺單轉(zhuǎn)軸（垂直軸Phi），單平移軸（垂直軸Z）；90位自動進(jìn)樣器，可換裝真空高溫臺（室溫至1600℃）。立式θ/θ測角臺，掃描范圍-110°~168°，步進(jìn)馬達(dá)、光學(xué)編碼器雙重定位。

    探測器：型號LYNXEYE  XE-T能量色散二維陣列探測器，動態(tài)范圍≥108cps，線性≥4×107cps，背景≤0.1cps

    X射線衍射儀用途：1、常量粉末（0.2g~1g）測試；2、粘土滴片樣測試；3、高溫反應(yīng)實(shí)時(shí)測試。